须知:
EBSD在晶粒度测量中的应用
2022-08-03 17:06:21 0 27
粒度分布是衡量 WC 颗粒均匀度的重要指标,也是粉体重要的物性特征指数。EBSD 技术是利用晶体学信息的方法,在样品表面构建各晶粒的取向图, 空间分辨率可达数十纳米,能够自动标定晶界,统计晶粒度大小,数据客观真实。因此,相比于传统的粒度检测技术, EBSD技术可以通过对 WC 晶粒的取向检测, 从而实现对WC 粉的晶粒度及粒度分布进行统计, 并做到检测结果的可视化。贺鸣等人通过研究将 EBSD 技术应用在不同规格 WC 粉的平均晶粒度统计及晶粒度的粒度分布统计上。
1 # 、2 # 、3 # 和 4 # 样品的(a)剖面图和 (b)EBSD 取向图
在 EBSD 取向图中,不同的颜色直观表征检测区域内各个 WC 晶粒的不同取向关系,颜色相差越近,表示相邻 WC 晶粒之间欧拉角越小。在EBSD 剖面图中可以看到其实是由多个晶粒构成, 表明 WC 颗粒通常是由数个 WC晶粒构成,而并非单颗粒。
EBSD 晶界图
WC 粉末的晶界图,图中灰色相为WC 硬质相,线条为相邻WC 晶粒之间的晶界,通过对晶粒间欧拉角度差值的统计, 可以将晶粒从团粒中甄别出来。
目前常用的粒度分析方法是激光粒度分析、X射线衍射(XRD)、扫描电镜法( SEM )、费氏粒度法( Fsss )、氮吸附法( BET )等。
粒度”,即单晶颗粒,因此所得到粒度结果会更细。
参考文献:[1]贺鸣, 于涛, 周红翠. EBSD技术在WC粉末晶粒度测量上的应用[J]. 硬质合金, 2018, 35(5):8.
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