AFM粉末制样,基片选择有哪些?AFM测试模式有哪些?
2020-09-25 16:59:13 14 1347
问AFM粉末制样,基片选择有哪些?
AFM粉末制样时基片的选择有云母、高序热解石墨HOPG、单晶硅片、玻璃、石英等;一般要结合样品的亲疏水、表面化学特性等选择合适的基片,对于详细研究粉体尺寸、形状等特性,应尽量选取表面原子级平整的韵母、HOPG等作为基片;
问AFM测试模式有哪些?
表面形貌测试:可得到样品表面形貌(2D、3D)以及粗糙度和高度分布图;
导电性能测试(C-AFM):同时得到形貌和电流分布图;也可以进行选区I-V曲线测试;
表面电势测试(AFM-SKPFM): 表面电荷的半定性表征,能直接测量探针和样品之间的电势差;
磁学性能测试(AFM-MFM):微区磁畴的分布表征;
纳米力学测试(AFM-QNM):力学图谱测量,可通过拟合力学曲线得到样品的杨氏模量,得到微区的杨氏模量分布,适用于较软样品高级纳米力学成像模式,可对有机物,高分子以及金属材料进行扫描,同时得到形貌和模量分布;
压电力测量(AFM-PFM):薄膜,陶瓷,晶体,纤维材料的表面铁电畴表征,极化反转和蝴蝶曲线测试,畴操纵;
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