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四探针电阻率测试

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四探针电阻率测试须知:

1.样品要求:粉体提供3-5g,压片测试,至少保证压实后体积不小于1cm3;薄膜,提供准确膜厚,厚度均匀;块体上下平行,最好抛光处理;厚度务必在 50μm至3mm之间,不得超过3mm,长宽最佳尺寸:10mm×10mm以上

2.特别注意:粉末电阻率范围:1.5×10 -5~ 2×10 5Ω·cm;薄片电阻率范围:10 -4~ 105Ω·cm;适用于碳材料及半导体材料;特别注意金属及合金类材料电阻率极低,超出检测下限、而陶瓷等无机材料电阻率过大,会超出检测上限,不适合用四探针法测试;

3.如有其他疑问,请联系前期对接的技术顾问


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常见问题

  • 四探针测试样品没有数据是为什么?

    四探针测试针对导体一般没问题,如果不出结果,大多数原因是阻值超量程了;

  • 四探针电阻率测试,样品的尺寸、厚度是否对结果产生影响?

    尺寸一般要求10*10mm以上,或者长条状至少有一个边大于10mm,以免无法放置探针;厚度不超过3mm,不同厚度校正因子不同,超过3mm默认用3mm厚度因子校正,结果会有一定误差;


  • 粉末电阻率测试方法是什么?

    粉末电阻率测试仪也是四探针法,直接粉末进样后,自动压片后测试,而RST-9需要压好片后再上机测试,对压片的样品强度有一定要求,容易松散的无法测试;


结果展示


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预约须知

须知:

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