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项目介绍
样品要求
结果展示
常见问题

1. 样品要求:块状和薄膜样品,长宽5-10mm,高度小于3mm(大尺寸样品请联系技术顾问确认),请务必标记好测试面,磁性样品请提前说明;
2. 特别注意:无法测试含F、Cl、Br、I、P、S、Hg单质等易挥发成分的材料;样品表面请用乙醇擦拭干净并抽真空来样,样品接触空气容易受C,N,O,Si等元素污染,表面测试结果可能会有误差;含量小于5%的元素可能测不出明显信号;样品是用胶带固定到样品台上,回收的样品会有污染或损坏/损失,不建议回收样品!测试默认Al靶;默认氩离子刻蚀;
3. 请详细说明刻蚀及扫谱要求,本项目计时收费,半小时起测,最终费用以实际测试时间为准;
4. 如有其他疑问,请联系前期对接的技术顾问;
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1. 样品状态:要求块状、薄膜;
2. 块状/薄膜样品:长宽5-10mm,高度小于3mm;需标记好测试面;
3、注意:
①易氧化的样品建议手套箱制样,也请抽真空后送样;
②XPS是高真空环境测试的,所以要求样品要充分干燥,易吸湿样品请提前说明;
③不能测试含硫、氟、氯、溴、碘单质等易挥发成分的样品;
④样品含有放射性元素请提前说明;
⑤块状/薄膜样品表面请用乙醇擦拭干净或抽真空来样,接触空气容易受C、N、O、Si等元素污染,测试结果可能会有误差;
⑥样品是用胶带固定到样品台上,回收的样品会有污染或损坏/损失,不建议回收样品!



一般是以C-C峰284.6ev进行校正的,总谱、分谱是不同的测试方法,所有不是一起校正的,只校正分谱数据,总谱不用校正;价带谱VB是以刚出峰的位置为0进行校正的。

定量时以元素的特征轨道谱图为准,如果存在多个轨道,切忌重复计算;若不同元素间轨道有重合,一般需要扫一下元素的非特征轨道来计算含量。

400-005-5990