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XPS深度剖析

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XPS深度剖析

满意度: 100%

仪器型号:

美国 赛默飞 escalab xi+,美国-赛默飞-Thermo Scientific ESCALAB Xi+,美国-赛默飞世尔 Esca Xi+,美国-赛默飞世尔-Thermo SCIENTIFI等

预约次数:

462次

服务周期:

平均7.3个工作日

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论文致谢
  • 项文龙

    闽南师范大学

    Molecules

    Eco-Friendly Fluorine Functionalized Superhydrophobic/ Superoleophilic Zeolitic Imidazolate Frameworks–Based Composite for Continuous Oil–Water Separation

    影响因子:4.927

    现金奖励:266.00

    申请时间:2023-03-22 23:16:49

预约须知

1. 样品要求:块状和薄膜样品,长宽5-10mm,高度小于3mm(大尺寸样品请联系技术顾问确认),请务必标记好测试面,磁性样品请提前说明

2. 特别注意:无法测试含F、Cl、Br、I、P、S、Hg单质等易挥发成分的材料样品表面请用乙醇擦拭干净并抽真空来样,样品接触空气容易受C,N,O,Si等元素污染,表面测试结果可能会有误差含量小于5%的元素可能测不出明显信号;样品是用胶带固定到样品台上,回收的样品会有污染或损坏/损失,不建议回收样品!测试默认Al靶;默认氩离子刻蚀;

3. 请详细说明刻蚀及扫谱要求,本项目计时收费,半小时起测,最终费用以实际测试时间为准

4. 如有其他疑问,请联系前期对接的技术顾问



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项目介绍

1.  XPS深度剖析可测试元素沿样品深度上的含量变化;计时收费;

2.  XPS定量为半定量数据。原子百分含量小于5%的元素可能测不出明显信号

3.  测试默认单色化Al靶(Al Kα source),能量1486.68eV;


样品要求

1. 样品状态:要求块状、薄膜;

2. 块状/薄膜样品:长宽5-10mm,高度小于3mm;需标记好测试面;

3、注意:

①易氧化的样品建议手套箱制样,也请抽真空后送样;

②XPS是高真空环境测试的,所以要求样品要充分干燥,易吸湿样品请提前说明;

③不能测试含硫、氟、氯、溴、碘单质等易挥发成分的样品;

④样品含有放射性元素请提前说明;

⑤块状/薄膜样品表面请用乙醇擦拭干净或抽真空来样,接触空气容易受C、N、O、Si等元素污染,测试结果可能会有误差;

⑥样品是用胶带固定到样品台上,回收的样品会有污染或损坏/损失,不建议回收样品!


结果展示

  QQ截图20201117170416.jpg

常见问题
XPS谱峰校正标准是什么呢?

一般是以C-C峰284.6ev进行校正的,总谱、分谱是不同的测试方法,所有不是一起校正的,只校正分谱数据,总谱不用校正;价带谱VB是以刚出峰的位置为0进行校正的。


单个元素如果测有不同轨道的谱图,定量以哪个为准呢?

定量时以元素的特征轨道谱图为准,如果存在多个轨道,切忌重复计算;若不同元素间轨道有重合,一般需要扫一下元素的非特征轨道来计算含量。


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