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XPS深度刨析

88次预约 100%满意度 10天完成

XPS深度刨析须知:

1. 样品要求:块状和薄膜样品,长宽小于10mm,高度小于3mm(最佳尺寸小于5×5×2mm);

2. 特别注意:无法测试含氟单质材料;请详细说明刻蚀及扫谱要求,与技术顾问确认时间后下单

3. 如有其他疑问,请联系前期对接的技术顾问



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常见问题

  • XPS谱峰校正标准是什么呢?

    一般是以C-C峰284.6ev进行校正的,总谱、分谱是不同的测试方法,所有不是一起校正的,只校正分谱数据,总谱不用校正;价带谱VB是以刚出峰的位置为0进行校正的。


  • 单个元素如果测有不同轨道的谱图,定量以哪个为准呢?

    定量时以元素的特征轨道谱图为准,如果存在多个轨道,切忌重复计算;若不同元素间轨道有重合,一般需要扫一下元素的非特征轨道来计算含量。


结果展示

  QQ截图20201117170416.jpg

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