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XPS深度剖析

234次预约 100%满意度 5.0个工作日完成

XPS深度剖析须知:

1. 样品要求:块状和薄膜样品,长宽小于10mm,高度小于3mm(大尺寸样品请联系技术顾问确认),请务必标记好测试面,磁性样品请提前说明

2. 特别注意:无法测试含硫、氟、氯、溴、碘单质等材料样品表面请用乙醇擦拭干净并抽真空来样,样品接触空气容易受C,N,O,Si等元素污染,表面测试结果可能会有误差含量小于5%的元素可能测不出明显信号;样品是用胶带固定到样品台上,回收的样品会有污染或损坏/损失,不建议回收样品!测试默认Al靶;默认氩离子刻蚀;

3. 请详细说明刻蚀及扫谱要求,本项目计时收费,最终费用以实际测试为准

4. 如有其他疑问,请联系前期对接的技术顾问



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常见问题

  • XPS谱峰校正标准是什么呢?

    一般是以C-C峰284.6ev进行校正的,总谱、分谱是不同的测试方法,所有不是一起校正的,只校正分谱数据,总谱不用校正;价带谱VB是以刚出峰的位置为0进行校正的。


  • 单个元素如果测有不同轨道的谱图,定量以哪个为准呢?

    定量时以元素的特征轨道谱图为准,如果存在多个轨道,切忌重复计算;若不同元素间轨道有重合,一般需要扫一下元素的非特征轨道来计算含量。


结果展示

  QQ截图20201117170416.jpg

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