球差电镜应用、EELS及前沿球差表征技术

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课程简介：
球差校正透射电镜（AC-TEM/STEM）搭载球差校正器，有效补偿电磁透镜的球面像差，将分辨率提升至亚埃级别，突破了传统透射电镜的观测极限。它可直观观测原子排布、晶体结构与界面缺陷，还能同步分析元素分布和电子态信息，是材料、催化、二维材料、半导体、合金等领域原子尺度研究的核心手段，也是高分科研论文常用的主流表征技术。

课程亮点：
专业讲师：电镜领域博士专家授课，理论结合多年一线实战经验，讲解通俗易懂、直击重难点；
内容全面：从技术发展史、基础原理，到设备差异、成像模式、案例分析、拓展技术全覆盖，体系完整：
理论+案例：原理知识点结合大量顶刊标准原子实拍图谱对照讲解，直观看懂各类结构、缺陷成像特征；
实战导向：聚焦实操痛点，拆解参数调试、数据处理、问题排查技巧，学完即可上手应用。

课程大纲：
第1讲：普通透射电镜与球差透射电镜的对比
（1）从光学到电子显微学：透射电镜结构、工作流程及成像原理，光学显微镜与TEM对比，TEM应用；
（2）从常规TEM到球差校正AC-TEM：球差电镜介绍、普通TEM与球差电镜对比、实例结合；
（3）从TEM成像到STEM成像：TEM与STEM对比、主流成像模式、Z衬度成像优势、实际案例；
（4）从“超级放大镜”到强大的“综合分析平台”：EDS、EELS谱学技术介绍；新型STEM拓展技术。
第2讲：球差透射电镜的应用
（1）什么是球差校正透射电镜：TEM基础结构、三类衬度原理、区分两类球差设备、普通电镜与球差电镜差异、球差优势；
（2）如何利用好球差电镜：制样要求、不同材料制样方法、关键调参技巧、常见问题、标准化测试流程；
（3）原子尺度下的精细成像：三种原子级成像衬度、适用场景、顶刊案例解读方法；
（4）球差校正透射电镜除了拍原子还能做什么：数据处理方法、EDS/EELS谱学、多材料体系应用、原位测试。
第3讲：EELS及前沿球差表征技术
（1）电子能力损失谱介绍：EELS原理、结构、操作要点、谱图解读；
（2）前沿表征技术讲解：各类前沿技术核心原理、优势、应用场景，如何选择。

讲师介绍

程博士

程博士，e测试首席工程师；

材料科学与工程专业博士，在国际知名期刊上发表多篇论文；

从事电镜表征工作7年，擅长FIB、TEM、球差电镜测试及数据分析，理论功底扎实，实战经验丰富。