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助教企微
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扫描电子显微镜(SEM)结合 EDS 能谱是材料、化工、新能源、矿物、生物医药、高分子领域最常用表征手段,依托高能电子束与样品交互,实现微观形貌观测 + 微区元素定性定量,可完成形貌表征、截面分析、元素线扫面扫、EBSD 织构测试等,是科研论文必备表征技术。
课程亮点
实战讲师亲授:多年一线 SEM 测试工程师授课,依托海量实测案例,避开书本理论,聚焦实验室真实测试痛点;
体系完整:5 大模块闭环教学,原理→各类样品制样→上机实操→形貌 / EDS 数据解析→后期绘图全流程全覆盖;
贴合科研:针对性解决荷电、图像漂移、浮粉污染、EDS 定量不准、Mapping 噪点等高频难题;
易学好用:由浅入深,搭配粉末 / 块体 / 薄膜 / 高分子 / 水泥等多样品实例,零基础快速上手测样与数据处理。
课程大纲
第一部分:SEM 仪器与基础原理
设备整机构造:电子光学系统、真空、信号探测系统组成;
电子枪分类(钨丝 / LaB₆/ 冷热场)、各类探测器(SE/BSE/Inlens/EDS)适用场景;
电子束 - 样品相互作用,SE/BSE/X 射线信号成因与成像原理;
分辨率、放大倍数、衬度、景深四大关键参数基础知识。
第二部分:全品类样品制备避坑指南
样品分类:粉末、块体、薄膜、脆性 / 韧性材料、磁性样品区分处理;
导电处理:喷金 / 喷碳选用规则,不同样品镀膜时长选型;
制样实操:粉末粘胶、超声分散,块体镶嵌 / 抛光 / 液氮脆断实操;
强磁、含水、易挥发样品上机禁忌与预处理方案。
第三部分:上机现场实操演示
上机前样品核查要点;
加速电压、工作距离、光阑、探头(Inlens/SE/BSE)参数设置逻辑;
高低倍形貌拍摄实操,荷电、图像漂移现场优化方法。
第四部分:SEM&EDS 数据深度解读
SE/BSE 图像区分:形貌衬度、成分衬度判读;
EDS 三大模式:点扫 / 线扫 / 面扫(Mapping)原理与应用场景;
能谱谱图判读、轻重元素测试难点、定量误差来源;
EBSD、原位拉伸等拓展应用介绍。
第五部分:数据后处理与常见问题答疑
电镜图标尺添加、粒径统计、伪彩上色等论文配图实操;
日常高频问题答疑:水凝胶 / 水泥 / 导电差样品测试方案、轻元素不准、Mapping 杂点等;
测试疑难快速排查思路汇总。
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