TEM原理、应用及数据分析

已有177人报名

课程购买后观看有效期356天

扫码添加
助教企微

了解更多课程详情

¥9.90 原价：¥199

立即报名

透射电子显微镜（TEM）依托高能电子束穿透超薄试样，可实现纳米尺度形貌观测、晶体结构解析、微区元素分析，搭配 STEM 模式还能完成原子级表征，广泛应用于催化、锂电、陶瓷、金属合金、高分子、生物医药等领域，是纳米材料微观机理研究的核心表征手段。

课程亮点

专家亲授：一线资深 TEM 测试工程师授课，依托海量实测案例，理论结合实操，规避课本抽象讲解；

体系完整：四大板块循序渐进，从仪器原理、全品类制样、多类型图谱判读到疑难样品处理全链路闭环教学；

贴合科研：聚焦样品团聚、辐照破损、积碳污染、磁性难测、衍射标定出错等高频科研痛点；

易学好用：搭配粉末 / 块体 / MOF / 量子 / 磁性等真实样品图例，零基础快速看懂 TEM 各类图片与能谱数据。

课程大纲

第一部分：TEM 基础原理与仪器构造

TEM/SEM/AFM 设备核心区别，各类散射电子信号原理；

电子枪分类（钨丝 / LaB₆/ 场发射）、加速电压对穿透与分辨率影响；

电镜镜筒组件功能、明场 / 暗场 / 高分辨三大衬度成像机理；

TEM 与 BF/ADF/HAADF-STEM 成像模式原理与适用场景。

第二部分：全品类样品制备详解

粉末样品：铜网选型、溶剂与超声参数、分散制样避坑要点；

块体制备：机械研磨、电解双喷、离子减薄、FIB 切割、超薄切片五种工艺适用材料；

高分子 / 生物 / 磁性样品专属制样方案；

制样不合格引发图像异常原因解析。

第三部分：TEM 数据类型与图谱解析

低倍形貌图：粒径统计、分散度分析实操；

高分辨晶格像：晶面间距读取、缺陷与界面识别；

电子衍射：单晶 / 多晶 / 非晶花样区分与物相标定思路；

EDS 点 / 线 / 面扫原理、元素含量判读与误差说明。

第四部分：特殊样品与常见问题答疑

辐照损伤、表面积、颗粒旋转成因与上机解决办法；

量子点、MOF、强磁性、易团聚样品测试对策；

论文配图规范、Nano Measurer 粒径统计实操；

日常测试疑难集中答疑。

梁老师

梁老师 e测试TEM高级项目工程师

深耕TEM测试分析领域6年，累计完成2万余例测试及表面分析工作熟练掌握各类材料表征和分析方法，在微观分析、结构分析等方面经验丰富。