AFM测试分析技术在材料表征中的应用

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原子力显微镜（AFM）无需真空、不苛求样品导电，可在大气 / 液相环境实现纳米级三维形貌表征，同步完成粗糙度、厚度测算，还可拓展 KPFM 电势、PFM 压电、QNM 力学、C-AFM 导电等多物性测试，广泛应用锂电、压电陶瓷、高分子、薄膜、催化、生物材料等领域，是表面微观性能表征核心手段。

课程亮点

专家亲授：一线资深表征工程师授课，依托海量薄膜 / 粉体 / 压电材料实测案例，理论结合实测经验；

体系完整：四大模块循序渐进，原理→样品制备→常规 + 特种测试模式→数据处理答疑全链路覆盖；

贴合科研：聚焦制样失败、图像划痕、数据异常、模式选型困难等高频科研痛点；

易学好用：搭配实拍图谱分步教学，零基础快速看懂各类 AFM 图谱、自主设计测试方案。

课程大纲

第一部分：AFM 基础原理与成像模式

1.AFM 对比 SEM/TEM 核心优势与适用场景；

2. 探针 - 原子间作用力成像底层原理；

3. 接触 / 轻敲 / 峰值力 / ScanAsyst 四种基础模式优缺点与选型。

第二部分：全品类样品制备规范

1. 粉末样品：溶剂、超声、衬底（云母 / 硅片）选型与制样避坑；

2. 块体 / 薄膜：尺寸、平整度要求，金属 / 半导体 / 生物样品抛光处理方案；

3. 易团聚、软质材料制样关键要点。

第三部分：常规 + 特种功能模式与数据分析

1. 常规测试：2D/3D 形貌、相图、粗糙度 Ra/Rq、截面高度软件实操；

2.KPFM：表面电势、功函数标定与换算方法；

3.PFM：压电振幅 / 相位、蝴蝶曲线、电滞回线解析；

4.QNM：杨氏模量、粘附力、力曲线判读；

5.C-AFM/EFM/MFM：导电、静电、磁畴成像原理与数据解读。

第四部分：高频疑难集中答疑

1. 扫描范围、探针选型选择技巧；

2. 图像失真、针尖磨损、数据偏差成因与解决；

3. 粉体 / 薄膜 / 生物材料常见测试难题解答。

王老师

王老师，e测试AFM项目工程师

从事AFM测试工作多年，累计完成3万+样品测试与表面分析工作;

精通各类材料AFM表征方法，在形貌观测、性能测试、数据解析方面经验丰富。