Jade和DM软件实战应用

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课程简介：

本课程聚焦材料表征中两款常用数据分析软件——XRD-Jade与TEM-DigitalMicrograph（DM）。学员将掌握XRD物相定性分析、峰位/峰强/峰宽解读、晶格常数变化判断、结晶度与粒径估算方法；同时学习TEM电子衍射花样识别、晶面间距测量、图像处理（FFT/IFFT）等核心操作。课程适合从事材料结构分析的科研人员快速上手。

课程亮点：

实用导向：直击XRD与TEM数据处理高频需求，涵盖物相检索、粒径计算、衍射花样子分析等实战内容；

操作清晰：Jade软件物相分析、背底扣除、晶粒尺寸计算流程；DM软件标尺校准、FFT变换、晶面间距测量步骤；

原理结合：穿插布拉格方程、Scherrer公式、电子衍射衬度等基础知识，避免盲目操作；

实时答疑：直播互动，提供回放与技术咨询。

课程大纲：

XRD-Jade基础与操作：布拉格方程与物相定性原理；峰位偏移（晶格膨胀/收缩）、峰宽化（粒径/畸变）、峰强度（结晶度/取向）；Jade软件操作：物相检索（S/M）、扣背底、粒径与结晶度计算。

TEM-DM基础知识：TEM明场/暗场/中心暗场成像原理；选区电子衍射花样（单晶斑点、多晶环、非晶晕环）识别。

DM软件实操：图像格式转换（DM3/TIF）、标尺校准；FFT变换、选点Mask、反傅里叶变换（IFFT）；利用高分辨条纹测量晶面间距（d值）及单位换算。

讲师介绍

君君老师

e测试特邀表征数据分析讲师;

拥有多年表征数据分析与处理经验，讲课逻辑清晰，深入浅出; 熟练运用Jade进行物相鉴定，利用DM软件进行电镜数据分析;精通Avantage与CasaXPS,精准处理XPS谱图;善于将复杂的测试数据通过Origin、3ds Max等绘图工具，转化为清晰、直观的可视化结果;