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课程简介:
X射线光电子能谱(XPS)是一种利用X射线激发材料表面光电子,通过解析光电子能量,来分析其元素组成、化学价态和表面结构的表面分析技术。凭借定性分析、化学态辨识、半定量计算及深度剖析能力,XPS成为材料表面成分、价态分布、界面结合与薄膜结构表征的关键手段,广泛应用于半导体、催化、新能源电池、高分子材料、失效分析等科研与工业场景。
课程亮点:
实力博士授课:国科大博士主讲,多篇TOP一区SCI加持,深耕材料表征与理论计算,理论扎实、实战经验充足,授课专业度拉满;
体系循序渐进:从XPS原理、制样避坑、谱峰解析、数据预处理、基础分峰、复杂重叠峰实战,完整闭环,由浅入深;
内容贴合科研:详解自旋分裂、震激峰、多重分裂等难点,梳理荷电校正、多种背底算法、重叠峰拆分等论文高频实操难题;
结合实操教学:Avantage、MultiPak软件实操,结合过渡金属等典型样品,学完可独立完成XPS全流程解析与论文作图。
课程大纲:
第一讲:XPS 入门:原理系统+样品准备避坑
1.XPS核心原理:光电效应、结合能、光电子发射规律;
2. XPS系统构成:X射线源、分析器、真空系统构造;
3. XPS技术能力(元素组成、化学态、深度分析等)及其与其他技术(EDS、AES、SIMS)的对比;
4. 粉末/块状/薄膜/空气敏感样品制样规范与测试避坑要点。
第2讲:XPS图谱解析:谱峰特征与特殊结构
1.光电子谱峰的形成;
2.自旋-轨道分裂及其强度比与双峰间距;
3.化学态位移的原理与应用;
4.震激峰(Shake-up)识别与在过渡金属氧化物中的应用;
5.俄歇电子峰与俄歇参数;
6.多重分裂峰;
7.能量损失峰与价带谱的信息价值。
第3讲:XPS数据处理:预处理+软件实操教学
1.谱峰平滑(Savitzky-Golay等)的原则与实操;
2.荷电校正方法(C1s基准、金标、内标法)与常见争议;
3.背底扣除原理(Shirley、Tougaard、Linear)与实操演示;
4.全谱扫描:元素定性识别;
5.精细谱:半定量分析原理(相对灵敏度因子RSF);
6.Avantage与MultiPak实操:元素识别与原子百分比计算。
第4讲:XPS 分峰拟合:基础方法与通用策略
1.半峰宽的物理意义与合理设置范围;
2.单峰拟合场景与实操;
3.峰型选择:Gaussian、Lorentzian与GL混合峰型;
4.分峰拟合的通用约束策略。
第5讲:XPS 拟合实战:复杂谱峰与重叠峰处理
1.双峰拟合实战;
2.多重分裂拟合:Cr2p3的Multiplet拟合(Avantage);
3.非线性最小二乘拟合:Ni2p3的NLS拟合(Avantage);
4.重合谱峰分析:Ti2p与V2p与俄歇峰的重叠处理。
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