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阻抗分析

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介电性能测试

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介电性能测试

    绝缘材料介电性能测试可以通过测试CP-D、介电频谱、介电温谱来得到介电常数和介电损耗的数据。介电常数反映的是材料的介电性质或极化性质,通常用ε来表示。不同用途的压电元器件对压电材料的介电常数要求不同。介电损耗指的是电介质在电场的作用下,由于电极化弛豫过程的漏导等原因在电介质内所损耗的能量。

热刺激电流仪(TSC)

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平均周期7.0个工作日

热刺激电流仪(TSC)

     热刺激电流(TSC) 的基本原理可以概括为将试样夹在两电极之间,加热到一定温度使样品中的载流子激发,然后施加一个直流的极化电压。经过一段时间使样品充分极化后,立即降温到低温使各类极化“冻结”。随后以等速率升温,同时记录试样经检流计短路的去极化电流随温度的变化关系。TSC谱图是一条有几个电流峰的曲线,每个峰都对应着一种特定的弛豫过程或陷阱能级。     由于固体电介质材料中与不同结构缺陷或化学杂质相联系的荷电粒子的微观参数(如活化能E、松弛时间τ以及陷阱能级等)不同,用热刺激法能较容易地将材料中各种不同活化能或陷阱能级的荷电粒子分离开,得到各种荷电粒子的数量、松弛时间、陷阱能级、迁移率等信息。因此,TSC成为研究高聚物体内偶极松弛、陷阱参数、空间电荷的贮存和输运以及聚合物结构松弛与转变、分子运动特征等电介质材料微观结构参数的有效方法。

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X射线光电子能谱(XPS)

优惠价 ¥54.00 ¥90.00起

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X射线光电子能谱(XPS)

1. X射线光电子能谱(XPS)可测试全谱、精细谱、俄歇谱、价带谱,也可刻蚀后采谱得到深层的信息;2. X射线光电子能谱(XPS)按元素个数收费(需要包含必测元素C,不能测试H、He元素);一个元素默认测一个轨道,若测试多个轨道计为多个元素;一个样品默认一个测试位置,若测试多个位置计为多个位置;3. XPS定量为半定量数据。原子百分含量小于5%的元素可能测不出明显信号;4. 测试默认单色化Al靶(AlKαsource),能量1486.68eV;

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X射线多晶衍射(XRD)

优惠价 ¥24.00 ¥40.00起

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X射线多晶衍射(XRD)

当一束单色X射线入射到晶体时,由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成,这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有X射线衍射分析相同数量级,故由不同原子散射的X射线相互干涉,在某些特殊方向上产生强X射线衍射,衍射线在空间分布的方位和强度,与晶体结构密切相关,每种晶体所产生的衍射花样都反映出该晶体内部的原子分配规律。这就是X射线衍射的基本原理。

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论文致谢
  • 刘**

    西安工程大学

    Toxics

    原文链接  Synergistic Effect of Charge Separation and Multiple Reactive Oxygen Species Generation on Boosting Photocatalytic Degradation of Fluvastatin by ZnIn2S4/Bi2WO6 Z-Scheme Heterostructured Photocatalytst

    影响因子:4.4720

    现金奖励:266.00

    申请时间:2022-12-12 09:58:01

预约须知

1. 设备测试频段:

安捷伦4294A:40Hz~100MHz;

安捷伦4980A:40Hz~2MHz;

安捷伦E4991A:磁导率:1MHz-1GHz;介电常数:1MHz-3GHz;

2. 样品要求:安捷伦4294A、4980A:直径或长宽20mm以内,厚度2mm以内,尽量不要太大;以上两台设备只能测试介电常数和介电损耗,无法得到磁导率E4991A:介电常数、磁导率均可测试,磁导率尺寸8mm*18mm圆环,厚度小于4mm;介电常数样品尺寸不小于20mm*20mm的圆片或正方形,厚度小于4mm;

3.  如有其他疑问,请联系前期对接的技术顾问;


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交流阻抗谱

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