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塞贝克(Seebeck )系数 /电阻率测试

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常见问题

塞贝克(Seebeck )系数 /电阻率测试

满意度: 100%

仪器型号:

中国-柯锐欧-CTA-3S,德国-LINSEIS-LSR-3,日本-Advance Riko- ZEM-3M8

中国-柯锐欧-CTA-3S,德国-LINSEIS-LSR-3,日本-Advance Riko- ZEM-3M8

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X射线光电子能谱(XPS)

优惠价 ¥54.00 ¥90.00起

平均周期5.0个工作日

X射线光电子能谱(XPS)

1. X射线光电子能谱(XPS)可测试全谱、精细谱、俄歇谱、价带谱,也可刻蚀后采谱得到深层的信息;2. X射线光电子能谱(XPS)按元素个数收费(需要包含必测元素C,不能测试H、He元素);一个元素默认测一个轨道,若测试多个轨道计为多个元素;一个样品默认一个测试位置,若测试多个位置计为多个位置;3. XPS定量为半定量数据。原子百分含量小于5%的元素可能测不出明显信号;4. 测试默认单色化Al靶(AlKαsource),能量1486.68eV;

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X射线多晶衍射(XRD)

优惠价 ¥24.00 ¥40.00起

平均周期4.5个工作日

X射线多晶衍射(XRD)

当一束单色X射线入射到晶体时,由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成,这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有X射线衍射分析相同数量级,故由不同原子散射的X射线相互干涉,在某些特殊方向上产生强X射线衍射,衍射线在空间分布的方位和强度,与晶体结构密切相关,每种晶体所产生的衍射花样都反映出该晶体内部的原子分配规律。这就是X射线衍射的基本原理。

350/h起

云现场/现场-场发射扫描电镜(SEM)

已下单45926| 满意度100%

平均周期6.5个工作日

云现场/现场-场发射扫描电镜(SEM)

    扫描电子显微镜(SEM)是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段。其利用聚焦很窄的高能电子束来扫描样品,通过光束与物质间的相互作用,来激发各种物理信息,对这些信息收集、放大、再成像以达到对物质微观形貌表征的目的。此外,扫描电子显微镜和其他分析仪器相结合,可以做到观察微观形貌的同时进行物质微区成分分析。

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场发射扫描电镜(SEM)

优惠价 ¥70.40 ¥80.00起

平均周期5.0个工作日

场发射扫描电镜(SEM)

扫描电子显微镜(SEM)是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的观察手段。其利用聚焦很窄的高能电子束来扫描样品,通过光束与物质间的相互作用,来激发各种物理信息,对这些信息进行收集、放大、再成像,以达到对物质微观形貌表征的目的。此外,扫描电子显微镜和其他分析仪器相结合,可以做到观察微观形貌的同时进行物质微区成分分析。

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样品要求

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常见问题

预约须知

1. 尺寸要求:块状样品:(2-5mm)*(2-5mm)*(10-18)mm(即至少有一个边长大于10mm,另外两边最好大于3mm,2mm属于极限);薄膜:(0.5-1mm)*(2-5mm)*(15-20)mm;没法测粉末

2.测试温度范围:室温-800℃,高温下要保证样品稳定,以防污染设备

3. 通常测试需要冷热端施加一个温差,温差大于0.2K数据可信;注意:对于导热性好的材料部分可能出现无法施加温差的现象;

4. 如有其他疑问,请联系前期对接的技术顾问;



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项目介绍
  1. 样品表面一定要光滑平整,否则影响测试结果;

  2. 可测温度范围室温-800℃

样品要求
  1.  薄膜或块状样品:(2-5)*(2-5)*7mm(即至少有一个边长大于7mm,另外两边最好大于3mm,2mm属于极限);

  2. 柱形或棱柱形样品:直径2-4mm,长度6-23mm;

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常见问题
塞贝克系数与载流子浓度有关系么?

载流子浓度与塞贝克系数成反比;

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