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四探针电阻率测试(已下架)

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常见问题

四探针电阻率测试(已下架)

满意度: 100%

仪器型号:

中国-恒奥德-RST-9,中国-晶格-ST2742B,四探针科技-PTS-8,中国-诺雷信达-RTS-9,中国-瑞柯微-FT-300I

中国-恒奥德-RST-9,中国-晶格-ST2742B,四探针科技-PTS-8,中国-诺雷信达-RTS-9,中国-瑞柯微-FT-300I

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项目推荐

电阻率测试

已下单4092| 满意度99%

平均周期6.0个工作日

电阻率测试

    材料的导电性是材料的一种重要性质,电阻率是材料常规参数之一,根据材料电阻的大小,设备一般分为低阻计和高阻计;低阻计一般适用于测试电阻小于10KΩ的材料,如金属、石墨烯、石墨等;高阻计一般测试电阻大于10KΩ的材料,如塑料、橡胶、陶瓷等。   电阻率是电导率的倒数,电导率的国际单位是S/m。在一般的工程沟通中,铜合金的电导率通常表示为%IACS,这是国际退火铜标准的缩写。100%IACS定义为:20°C时,17.241nΩ•m的体积电阻率相对应的导电率,100%IACS电导率为58.2MS/m。

PPMS-电阻率

已下单2679| 满意度97%

平均周期5.5个工作日

PPMS-电阻率

1,利用PPMS可以测试样品的电阻、电阻率和磁阻,可测温度范围2-1000K;2, 可靠电学测试的前提条件是样品与电极形成欧姆接触, 形成欧姆接触通常需要样品与电极材料的功函数互相匹配,是否形成了良好的欧姆接触, 可以通过测试IV曲线进行判断;3, 如果不镀电极,测试一律使用实验室默认电极接触样品, 无需收电极材料的费用;4,若做电极,实验室可以提供银胶和铟作为电极接触样品,需额外收费;5,若要用其他材料做电极, 或要焊电极, 则需要客户自己做好电极后再寄给我们。6,电阻测试范围: 5E-9到5E9 (Ohm). 结合锁相放大技术, 最低电阻大概能到1E-10 (Ohm),PPMS的电阻精度大概是1E-6欧姆

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X射线光电子能谱(XPS)

优惠价 ¥54.00 ¥90.00起

平均周期5.0个工作日

X射线光电子能谱(XPS)

1. X射线光电子能谱(XPS)可测试全谱、精细谱、俄歇谱、价带谱,也可刻蚀后采谱得到深层的信息;2. X射线光电子能谱(XPS)按元素个数收费(需要包含必测元素C,不能测试H、He元素);一个元素默认测一个轨道,若测试多个轨道计为多个元素;一个样品默认一个测试位置,若测试多个位置计为多个位置;3. XPS定量为半定量数据。原子百分含量小于5%的元素可能测不出明显信号;4. 测试默认单色化Al靶(AlKαsource),能量1486.68eV;

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X射线多晶衍射(XRD)

优惠价 ¥24.00 ¥40.00起

平均周期4.5个工作日

X射线多晶衍射(XRD)

当一束单色X射线入射到晶体时,由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成,这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有X射线衍射分析相同数量级,故由不同原子散射的X射线相互干涉,在某些特殊方向上产生强X射线衍射,衍射线在空间分布的方位和强度,与晶体结构密切相关,每种晶体所产生的衍射花样都反映出该晶体内部的原子分配规律。这就是X射线衍射的基本原理。

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常见问题

论文致谢
  • 寇**

    南京大学

    Advanced Functional Materials

    原文链接  Valence Engineering Boosts Kinetics and Storage Capacity of Layered Double Hydroxides for Aqueous Magnesium-ion Batteries

    影响因子:19

    现金奖励:500.00

    申请时间:2024-06-25 18:36:26

  • 戴**

    华中科技大学

    Advanced Energy Materials

    原文链接  Constructing Structural Isomers to Reveal and Enhance Lithium Storage in a Conducting Polymer

    影响因子:27.8

    现金奖励:500.00

    申请时间:2024-03-05 15:02:11

  • 李**

    中南大学

    Chemical Engineering Journal

    原文链接  Template-assisted synthesis of ultrathin graphene aerogels as bifunctional oxygen electrocatalysts for water splitting and alkaline/neutral zinc-air batteries

    影响因子:16.744

    现金奖励:566.00

    申请时间:2023-02-01 11:20:11

预约须知

1.样品要求:粉体,压片测试,需提供1毫升以上;薄膜,提供准确膜厚,厚度均匀;块体上下平行,最好抛光处理;厚度务必在 50μm至3mm之间,不得超过3mm,长宽10mm×10mm以上;液体提供3mly以上,不能有腐蚀性

2.特别注意:粉末电阻率范围:1.5×10 -5~ 2×10 5Ω·cm;薄片电阻率范围:10 -4~ 105Ω·cm;适用于碳材料及半导体材料;特别注意金属及合金类材料电阻率极低,超出检测下限、而陶瓷等无机材料电阻率过大,会超出检测上限,不适合用四探针法测试;四探针法只能测试室温;

3. 需要准确提供导电层厚度!!

4.如有其他疑问,请联系前期对接的技术顾问.


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项目介绍

1.四探针测试技术,简称为四探针法,是测量半导体电阻率最常用的一种方法;

2.四探针测试技术,是用4根等间距配置的探针扎在半导体表面上,由恒流源给外侧的两根探针提供一个适当小的电流I,然后测量出中间两根探针之间的电压V,就可以求出半导体的电阻率。对于厚度为W(远小于长和宽)的薄半导体片,得到电阻率为ρ=ηW(V/I),式中η是修正系数。特别,对于直径比探针间距大得多的薄半导体圆片,得到电阻率为ρ= (π/ln2)W(V/I)= 4.532 W(V/I) [Ω-cm],其中W用cm作单位。

3,四探针测试法测薄膜或块体样品的时候,会对样品有一定的压力损坏。

样品要求

样品要求:粉体,压片测试,需提供1毫升以上;薄膜,提供准确膜厚,厚度均匀;块体上下平行,最好抛光处理;厚度务必在 50μm至3mm之间,不得超过3mm,长宽10mm×10mm以上

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1.jpg

常见问题
四探针测试样品没有数据是为什么?

四探针测试针对导体一般没问题,如果不出结果,大多数原因是阻值超量程了;

四探针电阻率测试,样品的尺寸、厚度是否对结果产生影响?

尺寸一般要求10*10mm以上,或者长条状至少有一个边大于10mm,以免无法放置探针;厚度不超过3mm,不同厚度校正因子不同,超过3mm默认用3mm厚度因子校正,结果会有一定误差;


粉末电阻率测试方法是什么?

粉末电阻率测试仪也是四探针法,直接粉末进样后,自动压片后测试,而RST-9需要压好片后再上机测试,对压片的样品强度有一定要求,容易松散的无法测试;


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