白光干涉测试|白光干涉测试仪|白光干涉测试原理-e测试

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白光干涉仪

满意度： 99%

仪器型号：

美国-Rtec Instruments-UP-2000，美国-KLA Tencor-MicroXAM-800，美国-Rtec Instruments-UP-3000，德国-Bruker-ContourGT-K，德国-Bruker-Contour X200

预约次数：

692次

服务周期：

平均3.2-5.8个工作日

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项目介绍

样品要求

结果展示

常见问题

预约须知

1. 样品要求：块体尺寸50*50*50mm以下均可；需测磨痕时请告知技术顾问磨痕长宽数据；

2. 特别注意：黑色、透明样品不能测试；要求样品有一定反光性；每个样品默认一个测试位置；弧面测试一般没有粗糙度数据；

3. 如有其他疑问，请联系前期对接的技术顾问；

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项目介绍

主要测试三维形貌，进行粗糙度、深度、体积的测量。

样品要求

块体样品，尺寸不超过50*50*50mm；黑色、透明样品无法测试，注意样品要反光。

结果展示

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常见问题

白光干涉仪的测试原理是什么？

白光干涉仪是利用光学干涉原理研制开发的超精密表面轮廓测量仪器。照明光束经半反半透分光镜分威两束光，分别投射到样品表面和参考镜表面。从两个表面反射的两束光再次通过分光镜后合成一束光，并由成像系统在CCD相机感光面形成两个叠加的像。由于两束光相互干涉，在CCD相机感光面会观察到明暗相间的干涉条纹。干涉条纹的亮度取决于两束光的光程差，根据白光干涉条纹明暗度以及干涉条纹出现的位置解析出被测样品的相对高度；

咨询热线

400-005-5990