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TEM制样-离子减薄

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常见问题

TEM制样-离子减薄

满意度: 97%

仪器型号:

美国-GATAN-PIPS II MODEL 695,美国-GATAN-Model 691,美国-FISCHIONE-MODEL 1051

美国-GATAN-PIPS II MODEL 695,美国-GATAN-Model 691,美国-FISCHIONE-MODEL 1051

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TEM云现场/现场

已下单31612| 满意度98%

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TEM云现场/现场

     透射电子显微镜(TransmissionElectronMicroscope,TEM)是一种利用高能电子束穿透样品,通过电子与样品原子的相互作用产生的各种信号来成像,从而实现对材料原子级分辨率结构分析的精密仪器。设备在工作时把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上,电子与样品中的原子碰撞而改变方向,从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关,因此可以形成明暗不同的影像,影像将在放大、聚焦后在成像器件(如荧光屏、胶片、以及感光耦合组件)上显示出来。     云现场基于远程实时传输技术,用户可通过云端平台在线观察TEM成像过程,与技术人员实时交互调整参数(如放大倍数、聚焦),同步获取高清图片及分析报告,从而观察颗粒尺寸、形貌(如球形/片状)、分散性及团聚状态,结合选区衍射(SAED)分析晶型,能谱(EDS)检测元素分布。

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粉末/液体-场发射透射电镜(TEM)

     透射电子显微镜(TransmissionElectronMicroscope,TEM)是一种利用高能电子束穿透样品,通过电子与样品原子的相互作用产生的各种信号来成像,从而实现对材料原子级分辨率结构分析的精密仪器。设备在工作时把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上,电子与样品中的原子碰撞而改变方向,从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关,因此可以形成明暗不同的影像,影像将在放大、聚焦后在成像器件(如荧光屏、胶片、以及感光耦合组件)上显示出来。

TEM制样-聚焦离子束(FIB)制样

已下单2977| 满意度100%

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TEM制样-聚焦离子束(FIB)制样

用途及功能:1.定点剖面形貌和成分表征2.TEM样品制备3.微纳结构加工4.切片式三维重构5.三维原子探针样品制备适用领域:结构分析、材料表征、三维重构、材料转移等,该系统可适用于横截面和断层扫描,3D分析,TEM样品制备及纳米图形加工;

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生物透射(TEM) - 云现场

生物透射电镜是观察生物细胞样品内部形态的重要工具,其电压在80-120kv可以降低生物样品因高能电子束辐射而损伤的影响,同时依赖于生物样品制备技术的发展,如超薄切片技术、负染色技术、冷冻制样技术、细胞化学技术等,广泛应用于组织学、细胞学、病毒学、病理学及材料学等多个学科的研究中,一般用来观察细胞整体结构、细胞膜细胞壁细胞器的变化、材料进入细胞内部的分布情况或者细胞应付外界刺激产生的自噬小体等结构,以及外界生物入侵的侵染结构等等。

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常见问题

论文致谢
  • 张**

    浙江大学

    journal of non-crystalline solids

    原文链接  Relation between quenching wheel speed and microstructure, thermal stability and corrosion resistance of quinary Al-Ni-Y-Co-Si high entropy metallic glass ribbons prepared by melt spinning

    影响因子:4.4580

    现金奖励:266.00

    申请时间:2022-11-23 09:27:07

预约须知

1. 为保证达到满意的效果,请下单前与技术顾问沟通样品信息及制样要求;

2. 注意:由于快递邮寄有导致减薄后样品损伤的风险,所以一般不承接单独离子减薄制样;

3. 如有疑问,请联系前期对接的技术顾问;


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项目介绍

用于TEM样品制备

应用范围:适用于陶瓷、半导体、合金及薄膜截面样品离子束减薄。适用于合金样品表面氧化膜去除。运用该仪器制备的样品中间的薄区可用于透射电镜观测


样品要求

1. 离子减薄样品标准要求:厚度为三十微米,直径为三毫米的薄片。如果样品直径大于3mm,就需要先切割,再抛磨,然后才能进行离子减薄,其中切割和抛磨处理会另外加收费用;

2. 为保证达到满意的效果,请下单前与技术顾问沟通样品信息及制样要求;

3. 注意:由于快递邮寄有导致减薄后样品损伤的风险,所以一般不承接单独离子减薄制样;


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常见问题
离子减薄制样流程?

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