X射线光电子能谱(XPS)(旧 已下架)
满意度: 99%
仪器型号:
美国-赛默飞世尔-Thermo Fisher K-Alpha等
预约次数:
32531次
服务周期:
平均5.0个工作日
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项目介绍
样品要求
结果展示
常见问题
1. 样品要求:块状和薄膜样品,长宽小于10mm,厚度小于3mm(最佳尺寸小于5×5×2mm,大尺寸样品请联系技术顾问确认;岛津设备最好长宽在5mm内),刻蚀的样品尺寸尽量做5-10mm的方块,请务必标记好测试面;粉末样品,不少于10mg;液体样品需制好样再测试,可自行制样后再寄送,若直接寄送液体样品,请联系技术顾问确认;
2. 特别注意:无法测试含硫、氟、氯、溴、碘单质等材料;样品表面请用乙醇擦拭干净并抽真空来样,样品接触空气容易受C,N,O,Si等元素污染,测试结果可能会有误差;含量小于5%的元素可能测不出明显信号;样品是用胶带固定到样品台上,回收的样品会有污染或损坏/损失,不建议回收样品!测试默认Al靶;
3. 此项目可做刻蚀(岛津设备除外);可测试磁性材料,包括磁性块体,强磁样品请务必提前说明,且加收磁性费;价带谱、俄歇谱也加收费用;一个样品默认一个测试位置;
4. 请根据需要的数据格式选择测试设备:赛默飞设备默认VGD/VGP格式(软件Avantage),岛津设备默认VMS格式(软件CasaXPS),PHI设备默认SPE格式(软件MultiPak);
5. 如有其他疑问,请联系前期对接的技术顾问;
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高分辨+分峰拟合图:
一般是以C-C峰284.8ev进行校正的,总谱、分谱是不同的测试方法,所有不是一起校正的,只校正分谱数据,总谱不用校正;
样品本身污染,或测试过程被周围样品污染;
样品不均匀,这种情况比较常见,因为测试区域仅500微米,不同位置结果差别可能比较大;
正常XPS谱峰,左高右低是常见的,每个元素的谱峰左边高结合能端(即低动能)总会高于低结合能端,所以纵观整个全谱,你可以看到每出来一个XPS峰,就会伴随着谱峰抬升的台阶出现。因为每个XPS峰出现表明有大量该动能的电子逃逸出来,当然也会伴随着逃逸过程中损失能量的电子信号,造成背底抬升。所以如果存在表面污染,样品有序性不好等会引起逃逸电子散射增强的因素存在,都会使得这种抬升效果变得更明显;
定量时以元素的特征轨道谱图为准,如果存在多个轨道,切忌重复计算;
XPS测试过程中不会人为的引入碳,任何样品一旦接触空气都会吸附空气中的碳,引起碳污染。对于不含碳元素的样品,因为碳污染,C元素测试结果在60%左右都有可能;
若样品不含C元素,最好提供样品的详细信息,包含哪些元素。测试老师可以根据样品中已有的元素来进行定标校准,以保证结果的准确性;
XPS分峰需要结合其他测试以及样品的实际情况,需要知道样品的详细合成过程等,比较复杂;先确定有多少个峰,打个比方,拟合C的时候,根据材料或者红外拉曼等结果,确定样品中有C-C,C-O,C=O三个键,那就分三个峰,对应好结合能,慢慢调这三个峰的半高宽,越接近越好;
半峰宽控制在1.8以下,几个峰的半峰宽别相差太多,L-G一般设置30,如果感觉拟合的不好,可以设置范围20-40;
https://srdata.nist.gov/xps/selEnergyType.aspx查找标准峰;
一般来说都是先通过碳对谱图进行校正,只有个别C-C结构峰不明显时需要分峰后再校正;
400-005-5990