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基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱(MALDI-TOF-MS)

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基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱(MALDI-TOF-MS)

满意度: 99%

仪器型号:

德国-Bruker-autoflex speed,德国-Bruker-rapifleX

德国-Bruker-autoflex speed,德国-Bruker-rapifleX

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TOF-SIMS是非常灵敏的表面分析手段,具有质谱分析、二维成像分析、深度元素分析等功能,广泛应用于医学、细胞学、地质矿物学、微电子、材料化学、纳米科学、生命科学等领域,可以提供EDX、AES、XPS等技术无法提供的元素信息。

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X射线光电子能谱(XPS)

优惠价 ¥54.00 ¥90.00起

平均周期5.0个工作日

X射线光电子能谱(XPS)

1. X射线光电子能谱(XPS)可测试全谱、精细谱、俄歇谱、价带谱,也可刻蚀后采谱得到深层的信息;2. X射线光电子能谱(XPS)按元素个数收费(需要包含必测元素C,不能测试H、He元素);一个元素默认测一个轨道,若测试多个轨道计为多个元素;一个样品默认一个测试位置,若测试多个位置计为多个位置;3. XPS定量为半定量数据。原子百分含量小于5%的元素可能测不出明显信号;4. 测试默认单色化Al靶(AlKαsource),能量1486.68eV;

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X射线多晶衍射(XRD)

优惠价 ¥24.00 ¥40.00起

平均周期4.5个工作日

X射线多晶衍射(XRD)

当一束单色X射线入射到晶体时,由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成,这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有X射线衍射分析相同数量级,故由不同原子散射的X射线相互干涉,在某些特殊方向上产生强X射线衍射,衍射线在空间分布的方位和强度,与晶体结构密切相关,每种晶体所产生的衍射花样都反映出该晶体内部的原子分配规律。这就是X射线衍射的基本原理。

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1. 样品要求:粉体样品10mg以上;液体样品0.5mL以上;样品寄送前请先除盐

2. 特别注意:基质选择对测试结果有显著的影响,请参考文献或样品结构确认所用基质。低分辨率质谱,不能测试含有金属离子的样品寄送前请沟通详细测试方法,以免收到样品不能测试,耽误您的试验进度!

3. 如有其他疑问,请联系前期对接的技术顾问


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项目介绍

基质辅助的电离过程比较温和,能避免大量碎片的产生,适用于常规质谱难以激发的样品,例如合成聚合物和生物大分子。

样品要求

粉体样品10mg以上;液体样品0.5mL以上;样品寄送前请先除盐

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