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透射电子显微镜（TransmissionElectronMicroscope,TEM）是一种利用高能电子束穿透样品，通过电子与样品原子的相互作用产生的各种信号来成像，从而实现对材料原子级分辨率结构分析的精密仪器。设备在工作时把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关，因此可以形成明暗不同的影像，影像将在放大、聚焦后在成像器件（如荧光屏、胶片、以及感光耦合组件）上显示出来。 云现场基于远程实时传输技术，用户可通过云端平台在线观察TEM成像过程，与技术人员实时交互调整参数（如放大倍数、聚焦），同步获取高清图片及分析报告，从而观察颗粒尺寸、形貌（如球形/片状）、分散性及团聚状态，结合选区衍射（SAED）分析晶型，能谱（EDS）检测元素分布。
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论文致谢
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张**
三峡大学
Inorganic chemisty frontiers
原文链接 Facile synthesis of three-dimensional Co/N co-doped carbon nanocuboid for enhanced oxygen reduction reaction
影响因子：7.7790
现金奖励：366.00
申请时间：2023-03-09 19:13:54
预约须知
1. 样品要求：粉体需5mg左右，需要是纳米级颗粒，粒径较大的可提前研磨寄送；液体1ml以上，如是分散的液体，尽量浓度稍大一些，测试老师可以根据实际情况稀释拍摄；（浓度有特殊要求请备注）
2. 特别注意：无法测试磁性样品（含铁/钴/镍/锰元素）；若隐瞒样品实际信息，导致设备损坏，需承担全部赔偿责任；由于形貌类测试的特殊性，请尽量提供相关参考图片或文字说明；测试过程中老师会根据要求和样品实际情况尽力拍摄，但无法保证一定拍到理想形貌，敬请理解；
3. 如有其他疑问，请联系前期对接的技术顾问；
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