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X射线荧光光谱(XRF)

项目介绍
样品要求
结果展示
常见问题

X射线荧光光谱(XRF)

满意度: 99%

仪器型号:

荷兰-帕纳科zetium,美国-赛默飞-ARL PERFORM’X,仪器型号:Zetium 荷兰帕纳科,荷兰-帕纳科-Epsilon3,日本理学 Rigaku ZSX Primus III+,日本等

预约次数:

9615次

服务周期:

平均4.0个工作日

测试收费:

¥124.80 ¥160.00

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项目介绍

样品要求

结果展示

常见问题

预约须知

1.  样品要求:粉末样品,粒度小于0.2mm,需1g以上;块体要求表面平整光洁无污染,对角线/直径4cm以内大于3cm,厚度为3-5 mm;

2.  特别注意:适合无机样品的测试;定性,测试元素F-U;若样品不是氧化物,需要灼减,样品量尽量保证3g;

3.  制样后的样品无法回收,仅回收剩余的样品;

4.  如需定量测试,请联系前期对接的技术顾问;

5.  单质形式测不出氧元素;

6.  熔片法没有办法得到比如Cl,F这种容易挥发的元素含量,熔片法不能测试含有金属单质的样品,会腐蚀铂金坩埚。


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项目介绍

可测元素范围:常规测试范围9F-92U,部分仪器可以测到O元素,如果需要测到O需要备注好,但是O的结果不准

制样方法:压片、融片

结果模式:单质、氧化物

一般是半定量测试,测到的都是元素含量,氧化物含量也是根据单质含量进行换算的,可作为一种快速的无损分析


样品要求

1. 样品状态:可为粉末、块状、薄膜样品

2. 粉末样品:粉末样品需要至少2 g ,最好3 g以上,样品在测试之前尽量干燥,可以过200目筛的样品,颗粒过大的样品需要先研磨过筛后进行测试

3. 块状、薄膜样品:块体要求表面平整光洁无污染,对角线/直径4cm以内大于3cm


结果展示


定性-单质形式结果:

image.png

定性测试-氧化物形式结果:

image.png








常见问题
仪器的检测限多少?元素含量低于多少结果会不可靠?

理论上仪器的检测限为ppm—100%,但实际上 当元素含量低于1%时测量会存在误差,结果只能做为参考

XRF对样品有什么要求,片状样品可以测试吗?

XRF样品最好磨成粉末,且样品量确保在3g以上,因为需要和淀粉压片后测试,如果样品量太少,会导致结果不准确。

片状样品要求表面平整光洁无污染,直径34-38 mm,厚度为3-5 mm的圆柱;只能定性+半定量,如需准确定量最好是粉末,且颗粒大的必须磨成粉;


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