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项目介绍
样品要求
结果展示
常见问题
论文致谢
-
陈**
武汉大学
Advanced Energy Materials
原文链接 Interfacial Engineering by Self-Assembled Monolayer for High-Performance Sb2S3 Solar Cells
影响因子：27.8
现金奖励：500.00
申请时间：2024-06-05 14:56:47
-
项**
闽南师范大学
Molecules
原文链接 Eco-Friendly Fluorine Functionalized Superhydrophobic/ Superoleophilic Zeolitic Imidazolate Frameworks–Based Composite for Continuous Oil–Water Separation
影响因子：4.927
现金奖励：266.00
申请时间：2023-03-22 23:16:49
预约须知
1. 样品要求：块状和薄膜样品，长宽5-10mm，高度小于3mm（大尺寸样品请联系技术顾问确认)，请务必标记好测试面，磁性样品请提前说明；
2. 特别注意：无法测试含F、Cl、Br、I、P、S、Hg单质等易挥发成分的材料；样品表面请用乙醇擦拭干净并抽真空来样，样品接触空气容易受C，N，O，Si等元素污染，表面测试结果可能会有误差；含量小于5%的元素可能测不出明显信号；样品是用胶带固定到样品台上，回收的样品会有污染或损坏/损失，不建议回收样品！测试默认Al靶；默认氩离子刻蚀；
3. 请详细说明刻蚀及扫谱要求，本项目计时收费，半小时起测，最终费用以实际测试时间为准；
4. 如有其他疑问，请联系前期对接的技术顾问；
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项目介绍
样品要求
1. 样品状态：要求块状、薄膜；
2. 块状/薄膜样品：长宽5-10mm，高度小于3mm；需标记好测试面；
3、注意：
①易氧化的样品建议手套箱制样，也请抽真空后送样；
②XPS是高真空环境测试的，所以要求样品要充分干燥，易吸湿样品请提前说明；
③不能测试含硫、氟、氯、溴、碘单质等易挥发成分的样品；
④样品含有放射性元素请提前说明；
⑤块状/薄膜样品表面请用乙醇擦拭干净或抽真空来样，接触空气容易受C、N、O、Si等元素污染，测试结果可能会有误差；
⑥样品是用胶带固定到样品台上，回收的样品会有污染或损坏/损失，不建议回收样品！
结果展示
常见问题
XPS谱峰校正标准是什么呢？
一般是以C-C峰284.8ev进行校正的，总谱、分谱是不同的测试方法，所有不是一起校正的，只校正分谱数据，总谱不用校正；价带谱VB是以刚出峰的位置为0进行校正的。
单个元素如果测有不同轨道的谱图，定量以哪个为准呢？
定量时以元素的特征轨道谱图为准，如果存在多个轨道，切忌重复计算；若不同元素间轨道有重合，一般需要扫一下元素的非特征轨道来计算含量。
XPS刻蚀深度是准确的吗？
XPS不具备测试深度的功能，无法确定具体的刻蚀深度；调节刻蚀能量和面积后得到的刻蚀速率是按照Ta2O5来参考的，实际的刻蚀速率会因为样品实际情况而变化。
比如我可以按照Ta2O5的速率刻蚀10nm，但是具体样品刻蚀的深度未知，最终可能比10nm深，也可能比10nm浅。
400-005-5990
