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液相色谱-四级杆-飞行时间质谱(LC-Q-TOF-MS)

项目介绍
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液相色谱-四级杆-飞行时间质谱(LC-Q-TOF-MS)

满意度: 100%

仪器型号:

日本-SHIMADZU-LCMS-IT/TOF,美国-Agilent-6545 Q-TOF

日本-SHIMADZU-LCMS-IT/TOF,美国-Agilent-6545 Q-TOF

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TOF-SIMS是非常灵敏的表面分析手段,具有质谱分析、二维成像分析、深度元素分析等功能,广泛应用于医学、细胞学、地质矿物学、微电子、材料化学、纳米科学、生命科学等领域,可以提供EDX、AES、XPS等技术无法提供的元素信息。

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X射线光电子能谱(XPS)

优惠价 ¥54.00 ¥90.00起

平均周期5.0个工作日

X射线光电子能谱(XPS)

1. X射线光电子能谱(XPS)可测试全谱、精细谱、俄歇谱、价带谱,也可刻蚀后采谱得到深层的信息;2. X射线光电子能谱(XPS)按元素个数收费(需要包含必测元素C,不能测试H、He元素);一个元素默认测一个轨道,若测试多个轨道计为多个元素;一个样品默认一个测试位置,若测试多个位置计为多个位置;3. XPS定量为半定量数据。原子百分含量小于5%的元素可能测不出明显信号;4. 测试默认单色化Al靶(AlKαsource),能量1486.68eV;

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1. 样品要求:粉体样品10mg以上;液体样品0.5mL以上;

2. 特别注意:样品必须要溶于水、甲醇或乙腈等溶剂务必提供样品的分子式及样品结构式寄送前请沟通详细测试方法以免收到样品不能测试,耽误您的试验进度!

3. 如有其他疑问,请联系前期对接的技术顾问


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