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项目介绍
样品要求
结果展示
预约须知
1. 样品要求：粉末样品不少于30mg，粒径约40μm(320目)，粉末测试需要压片；块体样品长宽不超过40mm，高5mm；
2. 特别注意：立方测试需要3个晶面才可分析出全套数据，密排六方需要4个晶面才可分析出全套数据；需要注明具体物相及其晶面指数；
3. 需提前注明轧制RD方向；
3. 如有其他疑问，请联系前期对接的技术顾问；
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项目介绍
一般而言，多晶体各晶粒在空间的取向是任意的，各晶粒之间没有一定的位向关系。而经过冷加工，或者其他一些冶金，热处理过程后（如铸造、电镀、气相沉积、热加工、退火等等），多晶体的取向分布状态可以明显偏离随机分布状态，呈现一定的规则性。这样一种位向分布就称为织构，或者择优取向。此项目通过X射线与晶体的相互作用，确定样品的织构。
样品要求
此测试主要适用于薄膜样品和块体样品。样品的长宽高建议在30*20*10mm以内
结果展示
400-005-5990
