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项目介绍
样品要求
结果展示
1. 样品要求:粉末样品不少于30mg,粒径约40μm(320目),粉末测试需要压片;块体样品长宽不超过40mm,高5mm;
2. 特别注意:立方测试需要3个晶面才可分析出全套数据,密排六方需要4个晶面才可分析出全套数据;需要注明具体物相及其晶面指数;
3. 需提前注明轧制RD方向;
3. 如有其他疑问,请联系前期对接的技术顾问;
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一般而言,多晶体各晶粒在空间的取向是任意的,各晶粒之间没有一定的位向关系。而经过冷加工,或者其他一些冶金,热处理过程后(如铸造、电镀、气相沉积、热加工、退火等等),多晶体的取向分布状态可以明显偏离随机分布状态,呈现一定的规则性。这样一种位向分布就称为织构,或者择优取向。此项目通过X射线与晶体的相互作用,确定样品的织构。
此测试主要适用于薄膜样品和块体样品。样品的长宽高建议在30*20*10mm以内
400-005-5990