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金相显微镜(制样)

项目介绍
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常见问题

金相显微镜(制样)

满意度: 98%

仪器型号:

德国-ZEISS-Axio Imager 2,德国-Leica-DM2000x,日本-Olympus-DSX510,中国-西恩士-SinPOL3000T,德国-Leica-EM RES102

德国-ZEISS-Axio Imager 2,德国-Leica-DM2000x,日本-Olympus-DSX510,中国-西恩士-SinPOL3000T,德国-Leica-EM RES102

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偏光显微镜

已下单1065| 满意度97%

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偏光显微镜

   偏光显微镜是利用光经过一定条件下的反射,折射,双折射或散射都会产生偏振光的原理,在光学仪器中加入相互旋转的两片偏振滤光镜,从而获得舒适的光强度,并提高物体与背景衬度,偏光显微镜是鉴定物质细微结构光学性质的一种显微镜。

体式显微镜

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体式显微镜

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阿贝折射仪

已下单112| 满意度100%

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阿贝折射仪

阿贝折射仪是测定透明、半透明液体或固体的折射率的仪器(其中以测透明液体为主),折射率是物质的重要光学常数之一,能借以了解物质的光学性能、纯度等。

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X射线光电子能谱(XPS)

优惠价 ¥54.00 ¥90.00起

平均周期5.0个工作日

X射线光电子能谱(XPS)

1. X射线光电子能谱(XPS)可测试全谱、精细谱、俄歇谱、价带谱,也可刻蚀后采谱得到深层的信息;2. X射线光电子能谱(XPS)按元素个数收费(需要包含必测元素C,不能测试H、He元素);一个元素默认测一个轨道,若测试多个轨道计为多个元素;一个样品默认一个测试位置,若测试多个位置计为多个位置;3. XPS定量为半定量数据。原子百分含量小于5%的元素可能测不出明显信号;4. 测试默认单色化Al靶(AlKαsource),能量1486.68eV;

项目介绍

样品要求

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常见问题

预约须知

1. 样品要求:块状样品:(1)需要制样的,直接磨抛(不镶样)的样品直径或长宽需大于20mm、厚度需大于10mm(小于该尺寸或不规则的样品,需要镶嵌;线切割的样品需注意样品导电性);若仅制样请在材料加工-样品加工前处理处下单;(2)若样品不需要制样,注意测试面务必自行抛光好,并保护好待测面送样;(3)请务必标记好待测面,需要切割的样品需提供具体切割要求,可提供切割示意图;

2. 特别注意:一个样默认拍8张金相照片,如有关注的位置,请详细描述出来或提供参考图;晶粒尺寸统计或晶粒度评级请提供参考标准;若仅制样用于其他测试,测试项目请选择“仅制样,不拍金相”;若需要腐蚀,需提供腐蚀剂配方和腐蚀时间;金相磨抛为机械磨抛;镶样默认冷镶嵌;

3. 声明:本项目包含制样和拍金相,两者请尽量一同完成;因加工工艺等有差别,同一材质试样的组织形貌不尽相同,请尊重实验事实,试样本身不存在的组织形貌无法通过制样得到;因金相显微镜与其他表征手段也有差异,所以“仅制样”用于其他测试的试样会存在和预期制样效果有出入的风险,请提前知悉下,若继续预约下单,默认已考虑并承担该风险;

4. 如有其他疑问,请联系前期对接的技术顾问


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项目介绍

主要用来观测金属材料的相、晶粒及某些晶体缺陷等;

样品要求

1、样品状态:块体;

2、尺寸要求:(1)需要制样的,直接磨抛(不镶样)的样品直径或长宽需大于20mm、厚度需大于10mm(小于该尺寸或不规则的样品,需要镶嵌;大于该尺寸且需要镶嵌的样品,需要切割后再制样;线切割的样品需注意样品导电性);

(2)若样品不需要制样,尺寸无严格限制,注意测试面务必自行抛光好,并保护好待测面送样;


结果展示


金相形貌图:

image.png

image.png

常见问题
图片一部分清楚,一部分不清楚,请问是怎么回事?

光学显微镜的景深比较小,若样品不平,会出现上述现象;所以想得到比较完美的金相图片,样品的抛光质量是必须要保证的;


有时拍摄出来的晶界特别黑,图片暗沉,是什么原因?

图片较暗,有可能是光线太暗,需要增强光线;晶界特别黑,很可能是腐蚀过度的原因;


磨样+抛光流程?

(1)用砂纸从粗到细开始磨,每道砂纸磨样至少两个十字来回(一般1000号以上的,每一道砂纸4-5个来回:每个来回时,要求肉眼看不到垂直方向的磨痕);(2)磨好的样品上抛光机,在抛光布上喷适量抛光剂进行抛光,抛光也是按照十字方向进行;(3)抛光过程中,注意适量加水,防止摩擦过热,然后适时喷加抛光剂;(4)抛光完毕后,换新的抛光布进行水抛,目的是洗净抛光剂。


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