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紫外光电子能谱(UPS)

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常见问题

紫外光电子能谱(UPS)

满意度: 99%

仪器型号:

美国-Thermo Fisher-ESCALAB Xi+,美国-Thermo Fisher-Nexsa G2,日本-SHIMADZU-AXIS Supra+,美国-Thermo Fisher-ESCALAB Xi+,美国-Thermo Fisher-K-Alpha

美国-Thermo Fisher-ESCALAB Xi+,美国-Thermo Fisher-Nexsa G2,日本-SHIMADZU-AXIS Supra+,美国-Thermo Fisher-ESCALAB Xi+,美国-Thermo Fisher-K-Alpha

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X射线光电子能谱(XPS)

优惠价 ¥54.00 ¥90.00起

平均周期5.0个工作日

X射线光电子能谱(XPS)

1. X射线光电子能谱(XPS)可测试全谱、精细谱、俄歇谱、价带谱,也可刻蚀后采谱得到深层的信息;2. X射线光电子能谱(XPS)按元素个数收费(需要包含必测元素C,不能测试H、He元素);一个元素默认测一个轨道,若测试多个轨道计为多个元素;一个样品默认一个测试位置,若测试多个位置计为多个位置;3. XPS定量为半定量数据。原子百分含量小于5%的元素可能测不出明显信号;4. 测试默认单色化Al靶(AlKαsource),能量1486.68eV;

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X射线多晶衍射(XRD)

优惠价 ¥24.00 ¥40.00起

平均周期4.5个工作日

X射线多晶衍射(XRD)

当一束单色X射线入射到晶体时,由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成,这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有X射线衍射分析相同数量级,故由不同原子散射的X射线相互干涉,在某些特殊方向上产生强X射线衍射,衍射线在空间分布的方位和强度,与晶体结构密切相关,每种晶体所产生的衍射花样都反映出该晶体内部的原子分配规律。这就是X射线衍射的基本原理。

350/h起

云现场/现场-场发射扫描电镜(SEM)

已下单45482| 满意度100%

平均周期6.5个工作日

云现场/现场-场发射扫描电镜(SEM)

    扫描电子显微镜(SEM)是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段。其利用聚焦很窄的高能电子束来扫描样品,通过光束与物质间的相互作用,来激发各种物理信息,对这些信息收集、放大、再成像以达到对物质微观形貌表征的目的。此外,扫描电子显微镜和其他分析仪器相结合,可以做到观察微观形貌的同时进行物质微区成分分析。

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场发射扫描电镜(SEM)

优惠价 ¥70.40 ¥80.00起

平均周期5.0个工作日

场发射扫描电镜(SEM)

扫描电子显微镜(SEM)是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的观察手段。其利用聚焦很窄的高能电子束来扫描样品,通过光束与物质间的相互作用,来激发各种物理信息,对这些信息进行收集、放大、再成像,以达到对物质微观形貌表征的目的。此外,扫描电子显微镜和其他分析仪器相结合,可以做到观察微观形貌的同时进行物质微区成分分析。

项目介绍

样品要求

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常见问题

预约须知

1. 样品要求:薄膜/块体尺寸4mm-8mm(越小越好),厚度2mm以内;粉末样至少20mg(粉体样品不建议直接测试,可旋涂制备成薄膜后送样;目前无法委托制样,若需旋涂制样或者粉末压片,请自行制好样再送样);

2. 特别注意:样品需导电性良好(表面电阻<10MΩ),要求表面分布均匀,清洁无污染;氩离子表面清洁请提供具体刻蚀参数或刻蚀深度;

3. 做粉末样品风险较大,测试得到的数据不做解释和复测处理。如果下单,默认接受风险;

3. 一个样品默认一个测试区域,若一个样品测试多个区域,计为多个样品;

4. 如有其他疑问,请联系前期对接的技术顾问


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项目介绍

UPS可测试样品的价带和功函数:

(1)样品导电性良好时,可以加偏压得到二次截止边计算功函数;

(2)样品导电性差时,无法加偏压,可以开中和枪测试价带谱,得不到功函数;

(3)一个样品默认一个测试位置。

样品要求

1. 样品状态:要求块状、薄膜、粉末样品;

2. 粉末样品:至少20mg粉体样品不建议直接测试,可旋涂制备成薄膜后送样;目前无法委托制样,若需旋涂制样或者粉末压片,请自行制好样再送样

3. 块状/薄膜样品:尺寸4mm-8mm(越小越好),厚度2mm以内

4. 注意:①要求表面分布均匀,清洁无污染

样品需导电性良好(表面电阻<10MΩ);

不能测试含硫、氟、氯、溴、碘单质等易挥发成分的样品。

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数据参考:

UPS.png

常见问题
UPS价带谱和XPS区别?

从光源上看: UPS较XPS能量分辨率的提高,决定了用UPS可以检测到价带谱更精细的结构;

从激发截面看:用紫外线激发较X-ray激发外层电子有更大的散射截面,这代表UPS检测价带谱较XPS检测价带谱有更高的计数比,通常情况下PHI公司的UPS计数为Mcps,而用XPS则只有几百cps;

从检测深度来看:UPS激发的价带电子动能较XPS激发的电子动能小,所以信息来源深度更浅。总之对表面状态更加敏感;

综上,UPS较XPS更适合得到材料的价带谱结构;


UPS测试中,VB值与理论值偏高?

是由于样品表面粗糙度太大导致的;


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