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压汞(MIP)

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压汞(MIP)

满意度: 100%

仪器型号:

美国-Micromeritics-AutoPore IV 9500,美国-Micromeritics-AutoPore V 9600,美国-Micromeritics-AutoPore V 9620,美国-Micromeritics-AutoPore IV 9520

美国-Micromeritics-AutoPore IV 9500,美国-Micromeritics-AutoPore V 9600,美国-Micromeritics-AutoPore V 9620,美国-Micromeritics-AutoPore IV 9520

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10735次

服务周期:

平均2.0-4.2个工作日

测试收费:

¥412.50 ¥550.00

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X射线光电子能谱(XPS)

优惠价 ¥54.00 ¥90.00起

平均周期5.0个工作日

X射线光电子能谱(XPS)

1. X射线光电子能谱(XPS)可测试全谱、精细谱、俄歇谱、价带谱,也可刻蚀后采谱得到深层的信息;2. X射线光电子能谱(XPS)按元素个数收费(需要包含必测元素C,不能测试H、He元素);一个元素默认测一个轨道,若测试多个轨道计为多个元素;一个样品默认一个测试位置,若测试多个位置计为多个位置;3. XPS定量为半定量数据。原子百分含量小于5%的元素可能测不出明显信号;4. 测试默认单色化Al靶(AlKαsource),能量1486.68eV;

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X射线多晶衍射(XRD)

优惠价 ¥24.00 ¥40.00起

平均周期4.5个工作日

X射线多晶衍射(XRD)

当一束单色X射线入射到晶体时,由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成,这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有X射线衍射分析相同数量级,故由不同原子散射的X射线相互干涉,在某些特殊方向上产生强X射线衍射,衍射线在空间分布的方位和强度,与晶体结构密切相关,每种晶体所产生的衍射花样都反映出该晶体内部的原子分配规律。这就是X射线衍射的基本原理。

350/h起

云现场/现场-场发射扫描电镜(SEM)

已下单46812| 满意度100%

平均周期6.5个工作日

云现场/现场-场发射扫描电镜(SEM)

    扫描电子显微镜(SEM)是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段。其利用聚焦很窄的高能电子束来扫描样品,通过光束与物质间的相互作用,来激发各种物理信息,对这些信息收集、放大、再成像以达到对物质微观形貌表征的目的。此外,扫描电子显微镜和其他分析仪器相结合,可以做到观察微观形貌的同时进行物质微区成分分析。

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场发射扫描电镜(SEM)

优惠价 ¥70.40 ¥80.00起

平均周期5.0个工作日

场发射扫描电镜(SEM)

扫描电子显微镜(SEM)是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的观察手段。其利用聚焦很窄的高能电子束来扫描样品,通过光束与物质间的相互作用,来激发各种物理信息,对这些信息进行收集、放大、再成像,以达到对物质微观形貌表征的目的。此外,扫描电子显微镜和其他分析仪器相结合,可以做到观察微观形貌的同时进行物质微区成分分析。

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样品要求

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常见问题

预约须知

1.样品要求:

1)固体样品,如岩石、水泥、砂浆、混凝土等,孔隙率一般比较低,提供的样品量至少为1.5-2g;

2)薄膜类材料,如碳纸、薄膜等,提供的样品体积至少为1cm3;

3)孔隙率比较大的样品,如气凝胶、海绵等,样品量0.1g左右;

4)粉末类材料,堆积体积1cm3以上;

5)样杯大小一般是直径1cm3,高1cm3的圆柱体,大的样杯有直径2.5cm,高2.5cm圆柱体空间,样品尺寸要小于这个,需要留出余量才行,不能等于这个尺寸;若样品不能切割,请在要求单进行备注

6)对于部分孔容、孔隙率较小,孔径分布较宽的样品,建议样品颗粒尽量小一些,制备成1-5mm颗粒,低于60℃烘干。超过100℃烘干会使结晶水逸出,原矿物晶格被破坏,形成另一种化合物。

2.压汞不能回收,做完的样品已经浸润了汞,有毒,需要集中处理。

3.若样品充裕,请同时寄送备用样,以便数据不符合实验预期,复测使用,新寄送样品按照新样品付费

4.请根据样品的易碎程度选择合理的压力范围,压力过大,样品易碎

5. 如有其他疑问,请联系前期对接的技术顾问;

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项目介绍

工作基本原理是:汞对一般固体不润湿(接触角大于90°),欲使汞进入孔需施加外压,外压越大,汞能进入的孔半径越小。测量不同外压下进入孔中汞的量即可知相应孔大小的孔体积。所用压汞仪使用压力最大为60000psi,理论可测孔范围:0.003 -1100um(孔直径)。

Pr=-2γcosθ:著名的瓦什伯恩( Washburn)方程,它表明在θγ不变的前提下,随着压力的逐渐增大,汞将会逐渐进入孔径更小的孔。θ是汞对固体的接触角, γ是汞的表面张力。

Washburn建立了压力和圆柱体孔直径间的关系。如果压力从P1改变到P2,分别对应孔径r1r2,并设法量测出单位质量试样在两种孔径的孔之间的孔内所压入的汞体积△V,则在连续改变测孔压力时,就可测出汞进入不同孔级孔中的求量,从而得到孔径分布。

样品要求

1)固体样品,如岩石、水泥、砂浆、混凝土等,孔隙率一般比较低,提供的样品量至少为1.5-2g

2)薄膜类材料,如碳纸、薄膜等,提供的样品体积至少为1cm3

3)孔隙率比较大的样品,如气凝胶、海绵等,样品量0.1g左右;

4)粉末类材料,堆积体积1cm3以上;

5)样杯大小一般是直径2.5cm,高2.5cm圆柱体空间,样品尺寸要小于这个,需要留出余量才行,不能等于这个尺寸;

6)对于部分孔容、孔隙率较小,孔径分布较宽的样品,建议样品颗粒尽量小一些,制备成1-5mm颗粒,低于60℃烘干。超过100℃烘干会使结晶水逸出,原矿物晶格被破坏,形成另一种化合物。

结果展示

image.png

压汞数据.png


常见问题
为什么有的样品退汞曲线比进汞曲线的峰值还要高?

可能因素:1、样品膨胀;2、加压过程反应;3、进出接触角的变化等;可能还有其他因素影响;


压汞得出的平均孔径远远偏离于理论值,如何只计算所关心孔径范围的平均孔径?

有些样品在高压情况下微量进汞会产生较大的表面积,导致平均孔径变小,可以根据孔分布找到关心的孔径范围,在数据列里有累积体积和累积表面积两列,在这两列里可以找到所关心孔径段孔体积(V)和表面积(S) ,此时,再用4V/S,就可以得到所关心孔径段的平均孔径;


试验效果和进气压力有没有关系?设备有高压站和低压站,做的时候根据什么来选择?

试验时加压是用液压泵加压的,取压力点是根据设定的压力点进行选取的。在每一个压力点会平衡10秒时间用以测量孔信息。试验都是在相同的加压条件下完成的,所以说试验效果不受加压影响。

由于试验过程的复杂性,如填充样品管,加的压力高等原因,需要有一个低压站完成充填过程,更高压力的试验要在高压站才能完成。每个样品都要经过低压和高压站的操作;


毛细管利用率只有5%,数据可靠吗?

一般管体积利用率在10%-90%算合理的,可能是样品量放的太少了,才5%,并不是说数据不能用,一般来说 孔隙率特别小的情况下 样品就需要多加,但膨胀剂的体积又有限,所以导致一些孔隙率特别低的样品出现利用率低的情况


样品有水分,能直接测试压汞吗?

压汞要抽真空,有水分估计抽不下去,对结果有影响

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