预存有礼
组织形貌
成分含量
化学结构
物理性能
力学性能
光电磁声
试剂耗材
可靠性测试
球差TEM
同步辐射
CT测试
穆斯堡尔谱
三维原子探针
配方破解
失效分析
正电子湮灭
材料加工
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热处理
切割成型
真空封管
球磨处理
显微成像平台
显微成像-云现场
形态病理平台
细胞生物平台
分子蛋白平台
生理生化平台
微生物平台
动物实验平台
组学平台
4
满意度： 98%
仪器型号：
荷兰-帕纳科 锐影- Xpert Pro MPD，德国-Bruker-D8 Discover等
预约次数：
120次
服务周期：
平均7.0个工作日
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项目介绍
结果展示
常见问题
预约须知
1. 薄膜厚度，尺寸10-30mm；膜厚100nm以下，如果样品质量好的话，最大可以测到150nm左右；
2. 要求样品表面光滑平整，尽量是带基底的薄膜材料；
3. 如有其他疑问，请联系前期对接的技术顾问；
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结果展示
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常见问题
XRR数据解析大体流程？
1. 建立样品模型；
2. 根据样品模型计算理论曲线；
3. 拟合理论与实测曲线；
4. 拟合收敛，得到结果；
XRR测试厚度的原理及适用范围？
薄膜上表面对X射线会有反射的信号，膜与基底(或多层膜中的膜与膜)间的界面对X射线也有反射信号，这些信号相互干涉形成波形干涉谱图，通过波形的周期(宽度)来计算膜厚，膜越厚，干涉波宽度越小；
一般用XRR法测薄膜可以测几纳米到几百纳米的厚度；
400-005-5990
