项目推荐
场发射扫描电镜(SEM)
已下单78168次 | 满意度99%
X射线多晶衍射(XRD)
已下单70748次 | 满意度99%
粉体/液体样-场发射透射电镜(TEM)
已下单44266次 | 满意度99%
项目介绍
样品要求
结果展示
常见问题
1. 样品要求:粉体样品量在20mg以上;块体尺寸:长宽高2mm内(PPMS设备),液体5ml以上;薄膜或块体请备注测试方向;
2. 特别注意:M-H曲线,可测最低磁场-9T,最高场9T;M-T曲线,可测温度范围2-1000K;是若升降温速率或扫描速率有特殊要求,请备注一下;
3. 如有其他疑问,请联系前期对接的技术顾问;
展开全部收起
已下架项目
已下架项目
M-T曲线:
M-H曲线:
磁场强度H(外加磁场):单位Oe、G、T(1T=10000Oe=10000G);
磁化强度M:单位emu(通常使用比磁化强度,emu/g);
磁化率χ:反映磁场使介质磁化强度,磁化强度与磁场强度之比,χ=M/H;
磁极化强度J;
磁感应强度B:单位T、Wb/m2;
磁导率μ:是衡量介质对磁场的影响,磁感应强度与磁场强度之比,μ=B/H;
内禀磁参量Ms、Tc:取决于材料的化学成分
外禀磁参量Hc、Mr、Br、磁导率、损耗、磁能积:对材料结构(如晶粒尺寸、晶体缺陷、晶粒取向等)敏感,可以通过适当的工艺改变
400-005-5990