霍尔效应|霍尔效应测试|霍尔效应应用-e测试

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霍尔效应（HALL）

满意度： 100%

仪器型号：

美国-Quantum Design-PPMS-9，美国-Lake Shore-M91，中国-森美协尔-X3 霍尔效应测试系统，中国-东方晨景-ET9005-HS，中国-中科潞安-HS-65-AEM

预约次数：

2042次

服务周期：

平均2.0-4.5个工作日

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项目介绍

样品要求

结果展示

常见问题

预约须知

1. 样品要求：

必须是薄膜（做在基底上面的薄膜也可以，基底不能导电），薄片，或者粉末压片（自己压制成合适尺寸或实验室压片，至少提供1ml粉末）。基底上制备的薄膜的厚度，纯薄片的厚度或者压片的厚度需要准确提供，因为测试时需要输入仪器进行计算的。

室温尺寸要求：

使用综合物性测量系统（PPMS）设备样品尺寸：长宽3-10mm，厚度不超过3mm，可测温度范围是2-1000K（可以测大磁场，需议价）；

使用霍尔测试仪样品尺寸：6mm*6mm-30mm*30mm,厚度不超过3mm（磁场不大于2T）

变温尺寸要求：

使用综合物性测量系统PPMS样品尺寸：长宽3-10mm，厚度不超过3mm，可测温度范围是2-1000K（可以测大磁场，需议价）

霍尔测试仪和PPMS都可以测室温，但霍尔测试仪的磁场较小；变温主要是由PPMS设备测试。

2.特别注意：样品电阻不要超过200MΩ；当样品电阻超过100Ω时，需要制备金属电极，金属电极共四个，位于正四边形的四个顶角处，实验室可制作。高阻样品，因为电阻大电流扩展可能会不均匀从而导致结果不准确

4. 如有其他疑问，请联系前期对接的技术顾问；

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项目介绍

霍尔效应是当电流垂直于外加磁场通过一个导体或半导体时，在垂直于电流和磁场的方向上会产生一个横向电压（霍尔电压）的现象。霍尔效应测试主要用于表征半导体材料和其他导电材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等参数。

范德堡法是一种常用于测量样品的电阻率和霍尔系数的方法。它的功能是能够精确测量任意形状样品的性质,但需要在材料表面制作四个对称的欧姆接触电极，这种方法对样品形状没有特殊要求,但要求其厚度和电阻率均匀,并要求表面没有孔洞。四个接触点要尽可能小,并且这四个接触点必须位于薄膜的边缘。

局部截取_20250830_104236.png

样品要求

1.使用PPMS样品尺寸：长宽3-10mm，厚度不超过3mm，可测温度范围是2-1000K（可以测大磁场，需议价）；

使用霍尔测试仪样品尺寸：6mm*6mm-30mm*30mm,厚度不超过3mm（磁场不大于2T）

2. 粉末无法直接测试，都是通过压片后再测试，至少提供1ml粉末。

结果展示

数据形式：

载流子.jpg

电阻.jpg

常见问题

霍尔系数与其他参数的关系？

由霍尔系数RH的符号（或霍尔电压的正负）可以判断样品的导电类型：

若VH＜0，则RH为负，样品属于N型半导体，反之则为P型半导体；

咨询热线

400-630-1090