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椭圆偏振（椭偏仪）
椭圆偏振（椭偏仪）
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仪器型号：
Accrion/Nanofilm EP4SE，Horiba Uvisel Plus，组装设备，美国-J.A.Woollam-M-2000V等
预约次数：
502次
服务周期：
平均8.0个工作日
项目介绍
样品要求
结果展示
常见问题
预约须知
1. 样品要求：薄膜样品，膜层厚度 10nm-10um；有基底的膜层结构要做折射率和消光系数，基底厚度要求越厚越好，膜层厚度要在10um以下，如果是单层膜样品，没有基底，膜厚越厚越好，最好500um以上；
2. 膜层需为透明薄膜且膜层表面均匀光滑，送样前用激光笔照射样品表面，能观察到有反射光束方可；同时基底最好是不透明的，透明基底会影响测试结果；
3. 测试光谱范围200-2000nm;
4. 如有其他疑问，请联系前期对接的技术顾问；
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项目介绍
椭圆偏振主要用于探测薄膜厚度、光学常数以及材料微结构，通过精确测量薄膜样品的椭偏参数,经过后期数学处理、模拟和拟合，从而推导出多层结构、均匀和非均匀结构的厚度、光学常数（折射率，消光系数）、组分以及其他相关参数。
样品要求
必须是薄膜样品，膜层厚度 10nm-10um；有基底的膜层结构要做折射率和消光系数，基底厚度要求越厚越好，膜层厚度要在10um以下，如果是单层膜样品，没有基底，膜厚越厚越好，最好500um以上；膜层需为透明薄膜且膜层表面均匀光滑，送样前用激光笔照射样品表面，能观察到有反射光束方可；
结果展示
可得到膜厚及n，k曲线
常见问题
椭偏仪可以测量哪些参数？
利用椭偏仪测量薄膜参数，测量得到是的反射光的偏振状态（振幅和相位）通过软件建立一定的模型，膜厚，折射率，消光系数等参数时一并可以得到；
椭偏仪适用于哪些材料的测试？
椭偏仪适用于无机材料，样品有一定透光性；
满意度： 100%
400-005-5990
