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塞贝克（Seebeck ）系数 /电阻率测试

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塞贝克（Seebeck ）系数 /电阻率测试

满意度： 100%

仪器型号：

中国-柯锐欧-CTA-3S，德国-LINSEIS-LSR-3，日本-Advance Riko- ZEM-3M8

中国-柯锐欧-CTA-3S，德国-LINSEIS-LSR-3，日本-Advance Riko- ZEM-3M8

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X射线光电子能谱（XPS）

优惠价 ￥54.00 起 ￥90.00起

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X射线光电子能谱（XPS）

1. X射线光电子能谱（XPS）可测试全谱、精细谱、俄歇谱、价带谱，也可刻蚀后采谱得到深层的信息；2. X射线光电子能谱（XPS）按元素个数收费（需要包含必测元素C，不能测试H、He元素）；一个元素默认测一个轨道，若测试多个轨道计为多个元素；一个样品默认一个测试位置，若测试多个位置计为多个位置；3. XPS定量为半定量数据。原子百分含量小于5%的元素可能测不出明显信号；4. 测试默认单色化Al靶（AlKαsource），能量1486.68eV；
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X射线多晶衍射（XRD）

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X射线多晶衍射（XRD）

当一束单色X射线入射到晶体时，由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成，这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有X射线衍射分析相同数量级，故由不同原子散射的X射线相互干涉，在某些特殊方向上产生强X射线衍射，衍射线在空间分布的方位和强度，与晶体结构密切相关，每种晶体所产生的衍射花样都反映出该晶体内部的原子分配规律。这就是X射线衍射的基本原理。
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云现场/现场-场发射扫描电镜（SEM）

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云现场/现场-场发射扫描电镜（SEM）

    扫描电子显微镜（SEM）是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段。其利用聚焦很窄的高能电子束来扫描样品，通过光束与物质间的相互作用，来激发各种物理信息，对这些信息收集、放大、再成像以达到对物质微观形貌表征的目的。此外，扫描电子显微镜和其他分析仪器相结合，可以做到观察微观形貌的同时进行物质微区成分分析。
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场发射扫描电镜（SEM）

优惠价 ￥70.40 起 ￥80.00起

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场发射扫描电镜（SEM）

扫描电子显微镜（SEM）是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的观察手段。其利用聚焦很窄的高能电子束来扫描样品，通过光束与物质间的相互作用，来激发各种物理信息，对这些信息进行收集、放大、再成像，以达到对物质微观形貌表征的目的。此外，扫描电子显微镜和其他分析仪器相结合，可以做到观察微观形貌的同时进行物质微区成分分析。
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常见问题

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1. 尺寸要求：块状样品：（2-5mm）*（2-5mm）*（10-18）mm（即至少有一个边长大于10mm，另外两边最好大于3mm，2mm属于极限）；薄膜：（0.5-1mm）*（2-5mm）*（15-20）mm；没法测粉末

2.测试温度范围：室温-800℃，高温下要保证样品稳定，以防污染设备；

3. 通常测试需要冷热端施加一个温差，温差大于0.2K数据可信；注意：对于导热性好的材料部分可能出现无法施加温差的现象；

4. 如有其他疑问，请联系前期对接的技术顾问；



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项目介绍

  1. 样品表面一定要光滑平整，否则影响测试结果；

  2. 可测温度范围室温-800℃。

样品要求

  1.  薄膜或块状样品：（2-5）*（2-5）*7mm（即至少有一个边长大于7mm，另外两边最好大于3mm，2mm属于极限）；

  2. 圆柱形或棱柱形样品：直径2-4mm,长度6-23mm;

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常见问题
塞贝克系数与载流子浓度有关系么？

载流子浓度与塞贝克系数成反比；

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