离子减薄

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仪器型号:

4-CM DC Ion Source Manual_KDC 40,离子减薄仪,美国-Gatan Inc-695,美国-gatan-610C,美国-gatan-691等

预约次数:

419次

服务周期:

平均15.1个工作日

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预约须知

1. 为保证达到满意的效果,请下单前与技术顾问沟通样品信息及制样要求;

2. 注意:由于快递邮寄有导致减薄后样品损伤的风险,所以一般不承接单独离子减薄制样;

3. 如有疑问,请联系前期对接的技术顾问;


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项目介绍

用于TEM样品制备

应用范围:适用于陶瓷、半导体、合金及薄膜截面样品离子束减薄。适用于合金样品表面氧化膜去除。运用该仪器制备的样品中间的薄区可用于透射电镜观测


样品要求

1. 离子减薄标准要求:厚度为三十微米,直径为三毫米的薄片样品直径大于等于3mm,如需要切割,抛磨会加收费用;

2. 为保证达到满意的效果,请下单前与技术顾问沟通样品信息及制样要求;

3. 注意:由于快递邮寄有导致减薄后样品损伤的风险,所以一般不承接单独离子减薄制样;


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离子减薄制样流程?

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