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TEM制样-离子减薄

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TEM制样-离子减薄

满意度： 97%

仪器型号：

美国-FEI-Tecnai G2 F20，美国-Thermo Fisher-Talos F200S，日本-JEOL-JEM-2100F，美国-Thermo Fisher-Tecnai G2 F30，美国-FISCHIONE-MODEL 1051

美国-FEI-Tecnai G2 F20，美国-Thermo Fisher-Talos F200S，日本-JEOL-JEM-2100F，美国-Thermo Fisher-Tecnai G2 F30，美国-FISCHIONE-MODEL 1051

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预约次数：

1421次

服务周期：

平均8.3-12.5个工作日

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云现场/现场-场发射透射电镜（TEM）

已下单22360次 | 满意度98%

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云现场/现场-场发射透射电镜（TEM）

项目简介:1.样品要求：粉体需5mg左右，需要是纳米级颗粒，粒径较大的可提前研磨寄送；液体1ml以上，如是分散的液体，尽量浓度稍大一些，测试老师可以根据实际情况稀释拍摄；（浓度有特殊要求请备注）； 2.特别注意：正常测试电压：200kv；常规用普通碳膜制样，超小颗粒使用超薄碳膜；拍能谱且样品中含铜时，可选择镍网微栅或钼网微栅； 3.若样品有磁性（含铁/钴/镍/锰元素），务必备注清楚；若隐瞒样品实际信息，导致设备损坏，需承担全部赔偿责任；由于形貌类测试的特殊性，请尽量提供相关参考图片或文字说明；测试过程中老师会根据要求和样品实际情况尽力拍摄，但无法保证一定拍到理想形貌，敬请理解；如有其他疑问，请联系前期对接的技术顾问； 4，强磁样品要求颗粒大小不超过200nm，且不接受自己制样；强磁样品拍摄时会出现不同程度的抖动，会影响拍摄效果以及周期；因磁性抖动导致的效果不佳，不安排复测； 5. 如果需要特殊条件制样或者样品需要特殊条件保存，请提前联系您的技术顾问确认；
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粉末/液体-场发射透射电镜（TEM）

已下单60400次 | 满意度99%

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平均周期7.0个工作日

粉末/液体-场发射透射电镜（TEM）

注意：首次下单建议先联系技术顾问，沟通拍摄要求后再下单项目简介:1.样品要求：粉体需5mg左右，需要是纳米级颗粒，粒径较大的可提前研磨寄送；液体1ml以上，如是分散的液体，尽量浓度稍大一些，测试老师可以根据实际情况稀释拍摄；（浓度有特殊要求请备注）； 2.特别注意：正常测试电压：200kv；常规用普通碳膜制样，超小颗粒使用超薄碳膜；拍能谱且样品中含铜时，可选择镍网微栅或钼网微栅； 3.若样品有磁性（含铁/钴/镍/锰元素），务必备注清楚；若隐瞒样品实际信息，导致设备损坏，需承担全部赔偿责任；由于形貌类测试的特殊性，请尽量提供相关参考图片或文字说明；测试过程中老师会根据要求和样品实际情况尽力拍摄，但无法保证一定拍到理想形貌，敬请理解；如有其他疑问，请联系前期对接的技术顾问； 4，强磁样品要求颗粒大小不超过200nm，且不接受自己制样；强磁样品拍摄时会出现不同程度的抖动，会影响拍摄效果以及周期；因磁性抖动导致的效果不佳，不安排复测； 如果需要特殊条件制样或者样品需要特殊条件保存，请提前联系您的技术顾问确认；
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TEM制样-聚焦离子束（FIB）制样

已下单2309次 | 满意度100%

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平均周期15.0个工作日

TEM制样-聚焦离子束（FIB）制样

用途及功能：1.定点剖面形貌和成分表征2.TEM样品制备3.微纳结构加工4.切片式三维重构5.三维原子探针样品制备适用领域：结构分析、材料表征、三维重构、材料转移等，该系统可适用于横截面和断层扫描，3D分析，TEM样品制备及纳米图形加工；
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云现场-生物透射(TEM)

已下单682次 | 满意度100%

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平均周期14.0个工作日

云现场-生物透射(TEM)

生物透射电镜是观察生物细胞样品内部形态的重要工具，其电压在80-120kv可以降低生物样品因高能电子束辐射而损伤的影响，同时依赖于生物样品制备技术的发展，如超薄切片技术、负染色技术、冷冻制样技术、细胞化学技术等，广泛应用于组织学、细胞学、病毒学、病理学及材料学等多个学科的研究中，一般用来观察细胞整体结构、细胞膜细胞壁细胞器的变化、材料进入细胞内部的分布情况或者细胞应付外界刺激产生的自噬小体等结构，以及外界生物入侵的侵染结构等等。
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论文致谢

  • 张**

    浙江大学

    journal of non-crystalline solids

    原文链接  Relation between quenching wheel speed and microstructure, thermal stability and corrosion resistance of quinary Al-Ni-Y-Co-Si high entropy metallic glass ribbons prepared by melt spinning

    影响因子：4.458

    现金奖励：266.00

    申请时间：2022-11-23 09:27:07

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1. 为保证达到满意的效果，请下单前与技术顾问沟通样品信息及制样要求；

2. 注意：由于快递邮寄有导致减薄后样品损伤的风险，所以一般不承接单独离子减薄制样；

3. 如有疑问，请联系前期对接的技术顾问；


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项目介绍

用于TEM样品制备

应用范围：适用于陶瓷、半导体、合金及薄膜截面样品离子束减薄。适用于合金样品表面氧化膜去除。运用该仪器制备的样品中间的薄区可用于透射电镜观测


样品要求

1. 离子减薄样品标准要求：厚度为三十微米，直径为三毫米的薄片。如果样品直径大于3mm，就需要先切割，再抛磨，然后才能进行离子减薄，其中切割和抛磨处理会另外加收费用；

2. 为保证达到满意的效果，请下单前与技术顾问沟通样品信息及制样要求；

3. 注意：由于快递邮寄有导致减薄后样品损伤的风险，所以一般不承接单独离子减薄制样；


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