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离子减薄
离子减薄
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仪器型号：
4-CM DC Ion Source Manual_KDC 40，离子减薄仪，美国-Gatan Inc-695，美国-gatan-610C，美国-gatan-691等
预约次数：
419次
服务周期：
平均15.1个工作日
项目介绍
样品要求
结果展示
常见问题
预约须知
1. 为保证达到满意的效果，请下单前与技术顾问沟通样品信息及制样要求；
2. 注意：由于快递邮寄有导致减薄后样品损伤的风险，所以一般不承接单独离子减薄制样；
3. 如有疑问，请联系前期对接的技术顾问；
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项目介绍
用于TEM样品制备
应用范围：适用于陶瓷、半导体、合金及薄膜截面样品离子束减薄。适用于合金样品表面氧化膜去除。运用该仪器制备的样品中间的薄区可用于透射电镜观测
样品要求
1. 离子减薄标准要求：厚度为三十微米，直径为三毫米的薄片样品直径大于等于3mm，如需要切割，抛磨会加收费用；
2. 为保证达到满意的效果，请下单前与技术顾问沟通样品信息及制样要求；
3. 注意：由于快递邮寄有导致减薄后样品损伤的风险，所以一般不承接单独离子减薄制样；
结果展示
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常见问题
离子减薄制样流程？
满意度： 97%
400-005-5990
