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电阻率测试

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电阻率测试

满意度: 99%

仪器型号:

中国-晶格-ST2643,中国-恒奥德-RST-9,中国-瑞柯微-FT-300I,美国-FOUR DIMENSIONS-280I,中国-同惠-TH2690

中国-晶格-ST2643,中国-恒奥德-RST-9,中国-瑞柯微-FT-300I,美国-FOUR DIMENSIONS-280I,中国-同惠-TH2690

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PPMS-电阻率

已下单3191| 满意度97%

平均周期5.5个工作日

PPMS-电阻率

        综合物性测量系统(PPMS,PhysicalPropertyMeasurementSystem)与超导量子干涉仪(SQUID,SuperconductingQuantumInterferenceDevice)具有极端的测试环境(强磁场与极低温)与高灵敏度,构成了宏观量子态与功能性材料表征的基石。磁学性质测试:从静态磁化到动态磁响应在磁学测量层面,SQUID-VSM(振动样品磁强计)通常作为PPMS的选件或独立系统存在,利用超导环路的约瑟夫森效应,能够实现 10−8emu量级的超高分辨率。该系统可精确测量直流磁化率(M-T曲线)、磁滞回线(M-Hloop)及剩磁和矫顽力,是研究超导体的迈斯纳效应(抗磁屏蔽)、弱磁性材料(反铁磁或顺磁)以及稀磁半导体的标准工具。同时,PPMS平台搭载的交流磁化率(ACSusceptibility)选件则能进一步提供动态磁响应信息。通过测量交流磁化率的实部(χ′,反映磁化强度幅值)和虚部(χ″,反映磁损耗),研究人员能够精准捕捉到自旋玻璃的冻结温度、超导体的下临界场(Hc1)以及磁阻挫体系的频率依赖行为,其温度依赖关系是鉴别磁相变类型的“指纹”谱图。电学性质测试:多端法下的载流子输运利用PPMS的高精度恒流源与纳伏表,系统支持从两探针到五探针的灵活接线配置,以消除接触电阻的影响。在电学输运方面,PPMS可进行随温度(2K-1000K)和磁场(0-14T甚至更高)变化的电阻率(ρ-T)测量,并结合范德堡法获得薄层材料的载流子浓度与迁移率。更为关键的是,系统搭载的电输运选件(ETO)能够同步测量纵向电阻与霍尔电阻,从而分离出常规霍尔系数(正常载流子)与反常霍尔效应(与磁有序相关),这对拓扑半金属和磁性多层膜的拓扑霍尔效应研究至关重要。热学性质测试:热力学势的精密追踪在热力学性质方面,PPMS提供了集成的热输运选件(TTO)和比热选件(He-3或DynaCool)。在比热测量中,系统采用热弛豫法或热脉冲法,能够在极低温下以极高分辨率获得比热容(Cp)随温度和磁场的变化。比热数据中的异常峰(λ峰或Schottky异常)是判定超导转变、磁有序转变(如奈尔温度)及晶格结构相变的最直接热力学证据。结合德拜模型和电子比热系数(γ)的拟合,可定量计算电子的有效质量和态密度,从而区分能带结构的拓扑非平凡性。同时,热输运选件通过安装线性热梯度加热器和差分热电偶,可同步测量热导率(κ)和热电势(塞贝克系数,S)。     总而言之,PPMS作为“一机多用”的综合平台,实现了电阻率、比热、热导率及交流磁化率的同步或分步表征;而SQUID则专精于超高灵敏度的本征直流磁矩探测。二者相辅相成,共同构成了从宏观磁性(SQUID)到微观载流子与热力学熵变(PPMS)的全景式表征闭环。这些测试结果不仅是构建复杂相图(如温度-磁场-压力相图)的实验基石,更是验证密度泛函理论(DFT)计算及量子临界行为不可或缺的定量依据。

X射线光电子能谱(XPS)

已下单231059| 满意度100%

平均周期5.0个工作日

X射线光电子能谱(XPS)

1. X射线光电子能谱(XPS)可测试全谱、精细谱、俄歇谱、价带谱,也可刻蚀后采谱得到深层的信息;2. X射线光电子能谱(XPS)按元素个数收费(需要包含必测元素C,不能测试H、He元素);一个元素默认测一个轨道,若测试多个轨道计为多个元素;一个样品默认一个测试位置,若测试多个位置计为多个位置;3. XPS定量为半定量数据。原子百分含量小于5%的元素可能测不出明显信号;4. 测试默认单色化Al靶(AlKαsource),能量1486.68eV;

X射线多晶衍射(XRD)

已下单175442| 满意度99%

平均周期4.5个工作日

X射线多晶衍射(XRD)

当一束单色X射线入射到晶体时,由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成,这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有X射线衍射分析相同数量级,故由不同原子散射的X射线相互干涉,在某些特殊方向上产生强X射线衍射,衍射线在空间分布的方位和强度,与晶体结构密切相关,每种晶体所产生的衍射花样都反映出该晶体内部的原子分配规律。这就是X射线衍射的基本原理。

350/h起

SEM云现场/现场

已下单85280| 满意度100%

平均周期6.5个工作日

SEM云现场/现场

    扫描电子显微镜(SEM)是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段。其利用聚焦很窄的高能电子束来扫描样品,通过光束与物质间的相互作用,来激发各种物理信息,对这些信息收集、放大、再成像以达到对物质微观形貌表征的目的。此外,扫描电子显微镜和其他分析仪器相结合,可以做到观察微观形貌的同时进行物质微区成分分析。

项目介绍

样品要求

结果展示

预约须知

1. 样品要求:(1)块状或薄膜,需提供准确厚度,厚度要均匀,直径大于10mm,厚度3mm以内

   (2) 粉末测试范围:10的-5次方(Ω·cm)到10的+12次方(Ω·cm),粉末需提供1ml左右

   (3)  液体体积大于5ml,溶液电导率可测试的量程范围(S/m):10-1410+2S/cm,合      计  10  -12  10+4S/m),有毒易挥发、味道很大的样品不接

2. 低阻电阻率应小于1X10^+5(Ω·cm),大于需要选高阻,高阻目前测试最大量程为1X10^+14(Ω·cm),超过不显示具体结果大小,超量程按照50%收费样品表面要平整光滑,否则可能会导致样品和设备接触不好,导致测试结果不准确

3.体积电阻率为测试样品整体的电阻率情况;表面电阻率针对于绝缘导静电高阻类材料;方阻是针对薄膜材料的一种电阻特性测量;

4.带基底的样品,涂层如果是导体/半导体低阻材料,基底需要绝缘;如果涂层是高阻,若需测体积电阻率则要求基底为导体;

5.块体薄膜尺寸比较大的,一般测试3~5个位置数据,较小样品测试一个中心点;粉末样品测试不同压强的;

6. 有接触电阻、高温电阻测试(700度以内的高温测试可考虑在PPMS电阻率项目下单)等其他非常规需求可直接联系技术顾问进行咨询;

7.非铁磁性金属的电导率测试也有涡流法(直径大于14mm,测试量程3.5-65MS/m),需提前咨询,下单时备注上测试方法

8. 如有其他疑问,请联系前期对接的技术顾问

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项目介绍

       材料的导电性是材料的一种重要性质,电阻率是材料常规参数之一,根据材料电阻的大小,设备一般分为低阻计和高阻计;低阻计一般适用于测试电阻小于10KΩ的材料,如金属、石墨烯、石墨等;高阻计一般测试电阻大于10KΩ的材料,如塑料、橡胶、陶瓷等。

      电阻率是电导率的倒数,电导率的国际单位是S/m。在一般的工程沟通中,铜合金的电导率通常表示为% IACS,这是国际退火铜标准的缩写。100%IACS定义为:20°C时,17.241 nΩ•m的体积电阻率相对应的导电率,100%IACS 电导率为58.2 MS/m。

样品要求

样品要求:块状或薄膜,需提供准确厚度,厚度要均匀,直径大于10mm,厚度3mm以内;

                     粉末,压片测试,体积需大于1ml;

                     液体体积大于5ml;


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