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TEM制样-超薄切片

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TEM制样-超薄切片

满意度: 100%

仪器型号:

德国-Leica-EM UC7,日本-Hitachi-HT7700,德国-Leica-EM FC7

德国-Leica-EM UC7,日本-Hitachi-HT7700,德国-Leica-EM FC7

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云现场/现场-场发射透射电镜(TEM)

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平均周期10.0个工作日

云现场/现场-场发射透射电镜(TEM)

项目简介:1.样品要求:粉体需5mg左右,需要是纳米级颗粒,粒径较大的可提前研磨寄送;液体1ml以上,如是分散的液体,尽量浓度稍大一些,测试老师可以根据实际情况稀释拍摄;(浓度有特殊要求请备注); 2.特别注意:正常测试电压:200kv;常规用普通碳膜制样,超小颗粒使用超薄碳膜;拍能谱且样品中含铜时,可选择镍网微栅或钼网微栅; 3.若样品有磁性(含铁/钴/镍/锰元素),务必备注清楚;若隐瞒样品实际信息,导致设备损坏,需承担全部赔偿责任;由于形貌类测试的特殊性,请尽量提供相关参考图片或文字说明;测试过程中老师会根据要求和样品实际情况尽力拍摄,但无法保证一定拍到理想形貌,敬请理解;如有其他疑问,请联系前期对接的技术顾问; 4,强磁样品要求颗粒大小不超过200nm,且不接受自己制样;强磁样品拍摄时会出现不同程度的抖动,会影响拍摄效果以及周期;因磁性抖动导致的效果不佳,不安排复测; 5. 如果需要特殊条件制样或者样品需要特殊条件保存,请提前联系您的技术顾问确认;

粉末/液体-场发射透射电镜(TEM)

已下单60400| 满意度99%

平均周期7.0个工作日

粉末/液体-场发射透射电镜(TEM)

注意:首次下单建议先联系技术顾问,沟通拍摄要求后再下单项目简介:1.样品要求:粉体需5mg左右,需要是纳米级颗粒,粒径较大的可提前研磨寄送;液体1ml以上,如是分散的液体,尽量浓度稍大一些,测试老师可以根据实际情况稀释拍摄;(浓度有特殊要求请备注); 2.特别注意:正常测试电压:200kv;常规用普通碳膜制样,超小颗粒使用超薄碳膜;拍能谱且样品中含铜时,可选择镍网微栅或钼网微栅; 3.若样品有磁性(含铁/钴/镍/锰元素),务必备注清楚;若隐瞒样品实际信息,导致设备损坏,需承担全部赔偿责任;由于形貌类测试的特殊性,请尽量提供相关参考图片或文字说明;测试过程中老师会根据要求和样品实际情况尽力拍摄,但无法保证一定拍到理想形貌,敬请理解;如有其他疑问,请联系前期对接的技术顾问; 4,强磁样品要求颗粒大小不超过200nm,且不接受自己制样;强磁样品拍摄时会出现不同程度的抖动,会影响拍摄效果以及周期;因磁性抖动导致的效果不佳,不安排复测; 如果需要特殊条件制样或者样品需要特殊条件保存,请提前联系您的技术顾问确认;

TEM制样-聚焦离子束(FIB)制样

已下单2309| 满意度100%

平均周期15.0个工作日

TEM制样-聚焦离子束(FIB)制样

用途及功能:1.定点剖面形貌和成分表征2.TEM样品制备3.微纳结构加工4.切片式三维重构5.三维原子探针样品制备适用领域:结构分析、材料表征、三维重构、材料转移等,该系统可适用于横截面和断层扫描,3D分析,TEM样品制备及纳米图形加工;

TEM制样-离子减薄

已下单1421| 满意度97%

平均周期15.0个工作日

TEM制样-离子减薄

用于TEM样品制备应用范围:适用于陶瓷、半导体、合金及薄膜截面样品离子束减薄。适用于合金样品表面氧化膜去除。运用该仪器制备的样品中间的薄区可用于透射电镜观测

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预约须知

1. 为保证达到满意的效果,请下单前与技术顾问沟通样品信息及制样要求;

2. 如有疑问,请联系前期对接的技术顾问;


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项目介绍

由于电镜产生的电子束穿透能力很弱,必须把标本切成厚度小于0.1um以下的薄片才适用,这种薄片称为超薄切片。常用的超薄切片厚度是50-70nm

在透射电镜的样品制备方法中,超薄切片技术是最基本、最常用的制备技术。

样品要求

主要针对有机聚合物材料,块体薄膜均可,有一些材料可能需要包埋后进行切片,有些生物类材料需要需要经过取材、固定、脱水、浸透、包埋聚合、切片及染色等步骤,具体请联系我们进行具体沟通

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