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高压气体吸附测试

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高压气体吸附测试

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仪器型号:

中国-贝士德-BSD-MAB

中国-贝士德-BSD-MAB

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全自动物理吸附仪(BET)

优惠价 ¥60.00 ¥100.00起

平均周期7.0个工作日

全自动物理吸附仪(BET)

1、BET是测试样品的吸脱附曲线、比表面积、孔容、孔径分布等数据,主要测试气氛氮气、但也可以测试CO2、O2、H2、水蒸气、有机蒸汽等;2、表面和表面积: 表面是固体与周围环境,特别是液体和气体相互影响的部分;表面的大小即表面积。表面积可以通过颗粒分割(减小粒度)和生成孔隙而增加,也可以通过烧结、熔融和生长而减小。3、物理吸附分析仪(比表面和孔隙度分析仪)的工作原理: 由于没有工具对比表面进行直接测量,人们就根据物理吸附的特点,以已知分子截面积的气体分子作为探针,创造一定条件,使气体分子覆盖于被测样品的整个表面(吸附),通过被吸附的分子数目乘以分子截面积即认为是样品的比表面积。比表面积的测量包括能够到达表面的全部气体,无论外部还是内部。物理吸附一般是弱的可逆吸附,因此固体必须被冷却到气体的沸点温度,并且选择一种理论方法从单分子覆盖中计算表面积。比表面和孔隙度分析仪器就是创造相应的条件,实现复杂计算的这样一种仪器。4、拥有资质标准范围:1)气体吸附BET法测定固态物质比表面积GB/T19587-2017/ISO9277:2010(只测静态容量法)2)精细陶瓷粉体比表面积试验方法气体吸附BET法GB/T39713-2020(只测静态容量法) 3)孔径分布和孔隙率 压汞法和气体吸附法测定固体材料孔径分布和孔隙度第2部分:气体吸附法分析介孔和大孔GB/T21650.2-2008(只测静态体积法)4)压汞法和气体吸附法测定固体材料孔径分布和孔隙度第3部分:气体吸附法分析微孔GB/T21650.3-2011(只测容量法)

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X射线光电子能谱(XPS)

优惠价 ¥54.00 ¥90.00起

平均周期5.0个工作日

X射线光电子能谱(XPS)

1. X射线光电子能谱(XPS)可测试全谱、精细谱、俄歇谱、价带谱,也可刻蚀后采谱得到深层的信息;2. X射线光电子能谱(XPS)按元素个数收费(需要包含必测元素C,不能测试H、He元素);一个元素默认测一个轨道,若测试多个轨道计为多个元素;一个样品默认一个测试位置,若测试多个位置计为多个位置;3. XPS定量为半定量数据。原子百分含量小于5%的元素可能测不出明显信号;4. 测试默认单色化Al靶(AlKαsource),能量1486.68eV;

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X射线多晶衍射(XRD)

优惠价 ¥24.00 ¥40.00起

平均周期4.5个工作日

X射线多晶衍射(XRD)

当一束单色X射线入射到晶体时,由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成,这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有X射线衍射分析相同数量级,故由不同原子散射的X射线相互干涉,在某些特殊方向上产生强X射线衍射,衍射线在空间分布的方位和强度,与晶体结构密切相关,每种晶体所产生的衍射花样都反映出该晶体内部的原子分配规律。这就是X射线衍射的基本原理。

350/h起

云现场/现场-场发射扫描电镜(SEM)

已下单46292| 满意度100%

平均周期6.5个工作日

云现场/现场-场发射扫描电镜(SEM)

    扫描电子显微镜(SEM)是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段。其利用聚焦很窄的高能电子束来扫描样品,通过光束与物质间的相互作用,来激发各种物理信息,对这些信息收集、放大、再成像以达到对物质微观形貌表征的目的。此外,扫描电子显微镜和其他分析仪器相结合,可以做到观察微观形貌的同时进行物质微区成分分析。

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样品要求

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常见问题

预约须知

1. 样品要求:粉末至少2-3g;要求样品质量*吸附量大于50ml

2. 如有其他疑问,请联系前期对接的技术顾问;


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项目介绍

高压气体吸附分析仪使用的静态容量法,利用氢气,甲烷和二氧化碳等气体获得高压吸附和脱附等温线。

容量法技术引入一定量的已知气体(吸附剂)到含有待测样品的分析室中,当样品与吸附气体达到平衡时,记录最终的平衡压力。这些数据用来计算样品吸附气体的量。


样品要求

样品要求:粉末至少2-3g;要求样品质量*吸附量大于50ml

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常见问题
测试原理是什么?

静态容量法;

测试压力范围

从高真空至200 bar

高压气体吸附测试流程

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