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高分辨XRD

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高分辨XRD

满意度: 98%

仪器型号:

德国-Bruker-D8 DISCOVER,英国-Malvern Panalytical-X'Pert3 MRD,日本-Rigaku-SmartLab

德国-Bruker-D8 DISCOVER,英国-Malvern Panalytical-X'Pert3 MRD,日本-Rigaku-SmartLab

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X射线多晶衍射(XRD)

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平均周期4.5个工作日

X射线多晶衍射(XRD)

当一束单色X射线入射到晶体时,由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成,这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有X射线衍射分析相同数量级,故由不同原子散射的X射线相互干涉,在某些特殊方向上产生强X射线衍射,衍射线在空间分布的方位和强度,与晶体结构密切相关,每种晶体所产生的衍射花样都反映出该晶体内部的原子分配规律。这就是X射线衍射的基本原理。

X射线小角/广角散射(SAXS/WAXS)

已下单2535| 满意度100%

平均周期5.0个工作日

X射线小角/广角散射(SAXS/WAXS)

小角X射线散射:在散射角2θ接近0°时,对样品的X射线散射强度进行测量,以获取纳米到微米量级上的分子结构信息。广角X射线散射:测量散射角2θ大于5°。

X射线多晶衍射-钴靶(XRD)

已下单3596| 满意度99%

平均周期4.0个工作日

X射线多晶衍射-钴靶(XRD)

XRD的光源来自于靶材的特征X射线,对于含有较多Fe,Ni,Mn,Cr元素的样品,为避免Cu靶材产生的特征X射线激发样品的荧光辐射,使图样清晰。建议使用Co靶测试。

X射线单晶衍射(SC-XRD)

已下单4746| 满意度100%

平均周期5.5个工作日

X射线单晶衍射(SC-XRD)

通过X射线入射单晶样品产生的衍射斑点确认晶体参数和物质的结构组成。

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样品要求

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论文致谢
  • 张**

    中国科学院青岛生物能源与过程研究所

    Advanced Energy Materials

    原文链接  Novel Design Concepts of Efficient Mg-Ion Electrolytes toward High-Performance Magnesium–Selenium and Magnesium–Sulfur Batteries

    影响因子:29.3680

    现金奖励:566.00

    申请时间:2020-04-08 16:05:35

  • 沈**

    东华大学

    Applied Catalysis B: Environmental

    原文链接  Growth of C3N4 nanosheets on carbon-fiber cloth as flexible and macroscale fiter-membrane-shaped photocatalyst for degrading the flowing wastewater

    影响因子:11.6980

    现金奖励:566.00

    申请时间:2020-04-08 15:50:28

  • 林**

    合肥工业大学

    Applied Physics Letters

    原文链接  Dynamic electrical conductivity induced by isothermal crystallization in aluminum hydroxide filled silicone rubber

    影响因子:3.7910

    现金奖励:266.00

    申请时间:2022-06-16 18:27:06

  • 赵**

    四川大学

    Journal of Cleaner Production

    原文链接  Confined growth of molybdenum disulfide in cellulose microspheres with highly porous structure for environmental applications

    影响因子:9.2970

    现金奖励:366.00

    申请时间:2022-06-21 17:33:16

预约须知

1、高分辨XRD可做单晶薄膜/外延薄膜,或单晶/多晶薄片材料;

2、样品要求:薄片材料,测量面平整,厚度测量要求薄膜与衬底电子密度有明显差别且粗糙度尽量小  ;

3、高分辨项目仅包含测试模块,如需绘图,需结合实际情况,加收费用,具体可联系技术老师咨询。


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项目介绍

HRXRD是一种基于XRD的一种新型测试模式,广泛用于单晶质量、外延薄膜的厚度、组分、晶胞参数、缺陷、失配、弛豫、应力等结构参数的测试。

样品要求

薄片材料,测量面平整,厚度测量要求薄膜与衬底电子密度有明显差别且粗糙度尽量小。   

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