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泄露与密封强度测试仪

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泄露与密封强度测试仪

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X射线光电子能谱（XPS）

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1. X射线光电子能谱（XPS）可测试全谱、精细谱、俄歇谱、价带谱，也可刻蚀后采谱得到深层的信息；2. X射线光电子能谱（XPS）按元素个数收费（需要包含必测元素C，不能测试H、He元素）；一个元素默认测一个轨道，若测试多个轨道计为多个元素；一个样品默认一个测试位置，若测试多个位置计为多个位置；3. XPS定量为半定量数据。原子百分含量小于5%的元素可能测不出明显信号；4. 测试默认单色化Al靶（AlKαsource），能量1486.68eV；
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X射线多晶衍射（XRD）

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当一束单色X射线入射到晶体时，由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成，这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有X射线衍射分析相同数量级，故由不同原子散射的X射线相互干涉，在某些特殊方向上产生强X射线衍射，衍射线在空间分布的方位和强度，与晶体结构密切相关，每种晶体所产生的衍射花样都反映出该晶体内部的原子分配规律。这就是X射线衍射的基本原理。
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    扫描电子显微镜（SEM）是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段。其利用聚焦很窄的高能电子束来扫描样品，通过光束与物质间的相互作用，来激发各种物理信息，对这些信息收集、放大、再成像以达到对物质微观形貌表征的目的。此外，扫描电子显微镜和其他分析仪器相结合，可以做到观察微观形貌的同时进行物质微区成分分析。
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傅里叶变换红外光谱（FT-IR）

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红外光谱是通过产生固体、液体或气体的红外吸收光谱来检测分子中的化学键的一种光谱技术，主要基于化学键对红外光的吸收频率不同来获取化学键的信息，其原理是当连续波长的红外光源照射样品时，样品中的分子会吸收或部分某些波长光，没有被吸收的光会到达检测器（称为透射方法），将检测器获取透过样品的光模拟信号进行模数转换和傅立叶变换，得到具有样品信息和背景信息的吸收光谱，可分析样品分子结构特征，达到定性分析的目的。1.红外可做测试项目：粉体常规压片测试、ATR测试、液体池测试，积分球测试；2.可做样品形态：粉末、块体、薄膜、液体；3.测试参数：透过率、吸光度，反射率;4.常规测试波数范围：粉体常规压片是400-4000cm-1、液体池测试是400-4000cm-1；ATR测试是400-4000cm-1，积分球650-4000cm-1；5.红外光谱是一个定性的测定，因为吸光系数不同，不同物质的红外光谱不能用于定量比较
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