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微划痕测试

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微划痕测试

满意度: 99%

仪器型号:

奥地利-Anton Paar-RST3,奥地利-Anton Paar-HST-5K

奥地利-Anton Paar-RST3,奥地利-Anton Paar-HST-5K

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项目推荐

纳米划痕测试

已下单891| 满意度98%

平均周期9.0个工作日

纳米划痕测试

纳米划痕测试是根据样品材质选用一定曲率半径的压头,设置一定的载荷、划痕速率与划痕长度,开始测试,随着垂直加载荷的增大划痕表面裂纹出现并慢慢扩展到两边直至膜层剥落,横向力突变处的载荷(无摩擦力探头的情况下),可表征结合力的大小;有摩擦力探头的情况下,则摩擦力突变处的载荷用于评估结合力的大小;以上2种分析方式和具体的设备测试相关

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X射线光电子能谱(XPS)

优惠价 ¥54.00 ¥90.00起

平均周期5.0个工作日

X射线光电子能谱(XPS)

1. X射线光电子能谱(XPS)可测试全谱、精细谱、俄歇谱、价带谱,也可刻蚀后采谱得到深层的信息;2. X射线光电子能谱(XPS)按元素个数收费(需要包含必测元素C,不能测试H、He元素);一个元素默认测一个轨道,若测试多个轨道计为多个元素;一个样品默认一个测试位置,若测试多个位置计为多个位置;3. XPS定量为半定量数据。原子百分含量小于5%的元素可能测不出明显信号;4. 测试默认单色化Al靶(AlKαsource),能量1486.68eV;

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X射线多晶衍射(XRD)

优惠价 ¥24.00 ¥40.00起

平均周期4.5个工作日

X射线多晶衍射(XRD)

当一束单色X射线入射到晶体时,由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成,这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有X射线衍射分析相同数量级,故由不同原子散射的X射线相互干涉,在某些特殊方向上产生强X射线衍射,衍射线在空间分布的方位和强度,与晶体结构密切相关,每种晶体所产生的衍射花样都反映出该晶体内部的原子分配规律。这就是X射线衍射的基本原理。

350/h起

云现场/现场-场发射扫描电镜(SEM)

已下单45482| 满意度100%

平均周期6.5个工作日

云现场/现场-场发射扫描电镜(SEM)

    扫描电子显微镜(SEM)是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段。其利用聚焦很窄的高能电子束来扫描样品,通过光束与物质间的相互作用,来激发各种物理信息,对这些信息收集、放大、再成像以达到对物质微观形貌表征的目的。此外,扫描电子显微镜和其他分析仪器相结合,可以做到观察微观形貌的同时进行物质微区成分分析。

项目介绍

样品要求

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常见问题

预约须知

1. 样品要求:(15~25)×(15~25)×5mm(测试方向保证在15~25mm以内,厚度上下波动1mm),包括基底的厚度;涂层厚度为微米级别(0.2(较硬材质)-100 微米);

2. 特别注意:样品表面粗糙度在 0.5μm 以下;适合测试硬质薄膜;

3. 分辨临界载荷最可靠的方法是拿到样品之后做EDS测元素(EDS需另外测试),其次通过金相照片判断涂层何时破损,此外,声信号会在涂层破损之后发生改变,也可根据此信号判断结合力;

4. 一次测试订单,最多反馈一次数据;如未备注,则一次测完;

5. 压头采用洛氏硬度压头,极限120N,仅允许使用到100N,100N以上需增加压头费用;

6. 如有其他疑问,请联系前期对接的技术顾问;



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项目介绍

微米划痕测试是根据样品材质选用一定曲率半径的压头,设置一定的载荷、划痕速率与划痕长度,开始测试,随着垂直加载荷的增大划痕表面裂纹出现并慢慢扩展到两边直至膜层剥落,摩擦力或声信号突变处的载荷,可表征结合力的大小,不同设备得到的结果不同,请参照前台结果展示选择设备


样品要求

样品尺寸:15×15×5mm(测试方向保证在12~25mm以内,厚度上下波动1mm),包括基底的厚度;涂层厚度为微米级别(0.2(较硬材质)-100 微米);


结果展示

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常见问题
为什么测试微划痕得到的数据没有声信号?

首先样品材质是否为软质材质,如:铝、镁、锌及合金等,软材质样品不容易出现声信号。若样品为软质,建议采用纳米划痕测试,纳米划痕最大载荷30N,基本会满足需求;

测试高分子涂层,经常测不出信号,是什么原因?

微划痕适用于硬质涂层,高分子薄膜材质较软,测试过程中可能无法感应到声音信号,所以得不到理想的测试结果;

为什么测试结果画图曲线跳动特别厉害,没有明显的转折点,可能原因是?

一般这种多是样品表面较为粗糙,未处理好,导致没有明显的转折点;如果曲线较为平稳且无转折点,这种多为未划破的情况。


划痕长度影响测试结果吗?

一般样品平整区域范围内并不影响,微米划痕一般划痕长度为毫米(3-5mm)级别,比如力值0-10N,划痕长度3mm,速率10N/min,即可满足要求,同时建议测试位置至少3个,更能保证有效测试数据,单一位置测试数据仅供参考。


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