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组织芯片切片

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病理切片分析

已下单284次 | 满意度98%

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病理切片分析

在显微镜下观察切片或者浏览数字切片，在不同倍数下详细观察组织切片整体情况，对切片中的基本病理改变如充血、水肿、变性、增生、纤维化、钙化、化生、坏死炎症变化等情况进行文字描述，对每张玻片典型部位成像并在word文档中用箭头标识。
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X射线光电子能谱（XPS）

优惠价 ￥54.00 起 ￥90.00起

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X射线光电子能谱（XPS）

1. X射线光电子能谱（XPS）可测试全谱、精细谱、俄歇谱、价带谱，也可刻蚀后采谱得到深层的信息；2. X射线光电子能谱（XPS）按元素个数收费（需要包含必测元素C，不能测试H、He元素）；一个元素默认测一个轨道，若测试多个轨道计为多个元素；一个样品默认一个测试位置，若测试多个位置计为多个位置；3. XPS定量为半定量数据。原子百分含量小于5%的元素可能测不出明显信号；4. 测试默认单色化Al靶（AlKαsource），能量1486.68eV；
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X射线多晶衍射（XRD）

优惠价 ￥24.00 起 ￥40.00起

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X射线多晶衍射（XRD）

当一束单色X射线入射到晶体时，由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成，这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有X射线衍射分析相同数量级，故由不同原子散射的X射线相互干涉，在某些特殊方向上产生强X射线衍射，衍射线在空间分布的方位和强度，与晶体结构密切相关，每种晶体所产生的衍射花样都反映出该晶体内部的原子分配规律。这就是X射线衍射的基本原理。
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SEM云现场/现场

已下单63666次 | 满意度100%

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SEM云现场/现场

    扫描电子显微镜（SEM）是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段。其利用聚焦很窄的高能电子束来扫描样品，通过光束与物质间的相互作用，来激发各种物理信息，对这些信息收集、放大、再成像以达到对物质微观形貌表征的目的。此外，扫描电子显微镜和其他分析仪器相结合，可以做到观察微观形貌的同时进行物质微区成分分析。
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