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TEM云现场/现场
透射电子显微镜（TransmissionElectronMicroscope,TEM）是一种利用高能电子束穿透样品，通过电子与样品原子的相互作用产生的各种信号来成像，从而实现对材料原子级分辨率结构分析的精密仪器。设备在工作时把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关，因此可以形成明暗不同的影像，影像将在放大、聚焦后在成像器件（如荧光屏、胶片、以及感光耦合组件）上显示出来。 云现场基于远程实时传输技术，用户可通过云端平台在线观察TEM成像过程，与技术人员实时交互调整参数（如放大倍数、聚焦），同步获取高清图片及分析报告，从而观察颗粒尺寸、形貌（如球形/片状）、分散性及团聚状态，结合选区衍射（SAED）分析晶型，能谱（EDS）检测元素分布。
项目介绍
样品要求
结果展示
预约须知
1、此项目适合TEM块体样品制样，请提前和技术顾问沟通确认要求；
2、透射电镜样品电解双喷前一般需要手工或机械平面研磨样品达到50μm厚度。另外镁合金约100μm
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项目介绍
电解双喷减薄仪被广泛应用于透射电镜的样品制备，可在较短时间内制备出高质量的透射电镜样品。两个喷嘴同时减薄样品的两面，在样品穿孔的瞬间红外检测系统会迅速反应自动终止减薄，确保薄区的完整。其主机包括两个电解液槽，隔热型使用内置冷却管冷却，非隔热型使用电解液冷却，电子温度计实时的显示电解液的温度
样品要求
透射电镜样品电解双喷前一般需要手工或机械平面研磨样品达到50μm厚度。另外镁合金约100μm
结果展示
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