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TEM制样-电解双喷

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TEM制样-电解双喷

满意度: 98%

仪器型号:

美国-FISCHIONE-Model-120,丹麦-Struers-TenuPol-5

美国-FISCHIONE-Model-120,丹麦-Struers-TenuPol-5

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云现场/现场-场发射透射电镜(TEM)

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平均周期10.0个工作日

云现场/现场-场发射透射电镜(TEM)

项目简介:1.样品要求:粉体需5mg左右,需要是纳米级颗粒,粒径较大的可提前研磨寄送;液体1ml以上,如是分散的液体,尽量浓度稍大一些,测试老师可以根据实际情况稀释拍摄;(浓度有特殊要求请备注); 2.特别注意:正常测试电压:200kv;常规用普通碳膜制样,超小颗粒使用超薄碳膜;拍能谱且样品中含铜时,可选择镍网微栅或钼网微栅; 3.若样品有磁性(含铁/钴/镍/锰元素),务必备注清楚;若隐瞒样品实际信息,导致设备损坏,需承担全部赔偿责任;由于形貌类测试的特殊性,请尽量提供相关参考图片或文字说明;测试过程中老师会根据要求和样品实际情况尽力拍摄,但无法保证一定拍到理想形貌,敬请理解;如有其他疑问,请联系前期对接的技术顾问; 4,强磁样品要求颗粒大小不超过200nm,且不接受自己制样;强磁样品拍摄时会出现不同程度的抖动,会影响拍摄效果以及周期;因磁性抖动导致的效果不佳,不安排复测; 5. 如果需要特殊条件制样或者样品需要特殊条件保存,请提前联系您的技术顾问确认;

粉末/液体-场发射透射电镜(TEM)

已下单60532| 满意度99%

平均周期7.0个工作日

粉末/液体-场发射透射电镜(TEM)

注意:首次下单建议先联系技术顾问,沟通拍摄要求后再下单项目简介:1.样品要求:粉体需5mg左右,需要是纳米级颗粒,粒径较大的可提前研磨寄送;液体1ml以上,如是分散的液体,尽量浓度稍大一些,测试老师可以根据实际情况稀释拍摄;(浓度有特殊要求请备注); 2.特别注意:正常测试电压:200kv;常规用普通碳膜制样,超小颗粒使用超薄碳膜;拍能谱且样品中含铜时,可选择镍网微栅或钼网微栅; 3.若样品有磁性(含铁/钴/镍/锰元素),务必备注清楚;若隐瞒样品实际信息,导致设备损坏,需承担全部赔偿责任;由于形貌类测试的特殊性,请尽量提供相关参考图片或文字说明;测试过程中老师会根据要求和样品实际情况尽力拍摄,但无法保证一定拍到理想形貌,敬请理解;如有其他疑问,请联系前期对接的技术顾问; 4,强磁样品要求颗粒大小不超过200nm,且不接受自己制样;强磁样品拍摄时会出现不同程度的抖动,会影响拍摄效果以及周期;因磁性抖动导致的效果不佳,不安排复测; 如果需要特殊条件制样或者样品需要特殊条件保存,请提前联系您的技术顾问确认;

TEM制样-聚焦离子束(FIB)制样

已下单2331| 满意度100%

平均周期15.0个工作日

TEM制样-聚焦离子束(FIB)制样

用途及功能:1.定点剖面形貌和成分表征2.TEM样品制备3.微纳结构加工4.切片式三维重构5.三维原子探针样品制备适用领域:结构分析、材料表征、三维重构、材料转移等,该系统可适用于横截面和断层扫描,3D分析,TEM样品制备及纳米图形加工;

TEM制样-离子减薄

已下单1425| 满意度97%

平均周期15.0个工作日

TEM制样-离子减薄

用于TEM样品制备应用范围:适用于陶瓷、半导体、合金及薄膜截面样品离子束减薄。适用于合金样品表面氧化膜去除。运用该仪器制备的样品中间的薄区可用于透射电镜观测

项目介绍

样品要求

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预约须知

1、此项目适合TEM块体样品制样,请提前和技术顾问沟通确认要求;

2、透射电镜样品电解双喷前一般需要手工或机械平面研磨样品达到50μm厚度。另外镁合金约100μm


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项目介绍

电解双喷减薄仪被广泛应用于透射电镜的样品制备,可在较短时间内制备出高质量的透射电镜样品。两个喷嘴同时减薄样品的两面,在样品穿孔的瞬间红外检测系统会迅速反应自动终止减薄,确保薄区的完整。其主机包括两个电解液槽,隔热型使用内置冷却管冷却,非隔热型使用电解液冷却,电子温度计实时的显示电解液的温度


样品要求

透射电镜样品电解双喷前一般需要手工或机械平面研磨样品达到50μm厚度。另外镁合金约100μm


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