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载流子迁移率

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载流子迁移率

满意度： 98%

仪器型号：

韩国-McScience-T3000

韩国-McScience-T3000

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1. X射线光电子能谱（XPS）可测试全谱、精细谱、俄歇谱、价带谱，也可刻蚀后采谱得到深层的信息；2. X射线光电子能谱（XPS）按元素个数收费（需要包含必测元素C，不能测试H、He元素）；一个元素默认测一个轨道，若测试多个轨道计为多个元素；一个样品默认一个测试位置，若测试多个位置计为多个位置；3. XPS定量为半定量数据。原子百分含量小于5%的元素可能测不出明显信号；4. 测试默认单色化Al靶（AlKαsource），能量1486.68eV；
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1、TOF方法只适合单层器件，薄膜厚度非常关键，十几微米是比较合适的，最低也要1微米。如果太薄，载流子的运动距离就很短，就会造成比较大的测量误差；

2、TOF方法只适合载流子迁移率在10-7～10-1 cm2/V・sec范围，迁移率太高和太低都不适合。

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