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项目介绍
样品要求
结果展示

1. 样品要求:块状和薄膜样品,长宽小于10mm,厚度小于3mm(最佳尺寸小于5×5×2mm);样品需导电性良好、表面平整;请务必标记好测试面;需要测试特定位置的也在样品上标记出来,可以事先找光学显微镜观察,然后用针尖划刻标记,无标记的样品不保证测试结果;
2. 特别注意1:无法测试含F、Cl、Br、I、P、S、Hg单质等易挥发成分的材料;样品表面请用乙醇擦拭干净并抽真空来样,样品接触空气容易受C,N,O,Si等元素污染,测试结果可能会有误差;含量小于5%的元素可能测不出明显信号,请悉知!
3. 特别注意2:一个样品默认一个测试区域,若一个样品测试多个区域,计为多个样品;特定位置请标记出来;
4. 如有其他疑问,请联系前期对接的技术顾问;
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1. 可进行XPS微区测试,采谱面积20~1300um;
2. 要求样品导电性良好;

1. 样品状态:要求块状、薄膜样品;
2. 块状/薄膜样品:尺寸小于10*10*3mm,最佳尺寸小于5*5*2mm;需标记好测试面;
3. 注意:
①XPS是高真空环境测试的,所以要求样品要充分干燥,易吸湿样品请提前说明;
②不能测试含硫、氟、氯、溴、碘单质等易挥发成分的样品;
③样品含有放射性元素请提前说明;
④块状/薄膜样品表面请用乙醇擦拭干净或抽真空来样,接触空气容易受C、N、O、Si等元素污染,测试结果可能会有误差;
⑤样品是用胶带固定到样品台上,回收的样品会有污染或损坏,不建议回收样品!


400-005-5990