掠入射XRD

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掠入射XRD（GIXRD）

满意度： 99%

仪器型号：

日本-Rigaku-SmartLab，德国-Bruker-D8 ADVANCE，英国-Malvern Panalytical-X'Pert3 Powder

预约次数：

2085次

服务周期：

平均2.0-4.5个工作日

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项目介绍

样品要求

结果展示

论文致谢

预约须知

1.掠入射一般针对薄膜和涂层样品，入射角度选择会显著影响测试结果，请参考文献选择。

2.必须标注测试面，待测样品表面需光滑且平整，测试区域不要有遮挡。

3.掠入射尺寸块体要求（在1×1cm到1.8×1.8cm），整体厚度不超过5mm，薄膜层尽量均匀；超出常规尺寸，加收20元/样；一般要求最小测试厚度300nm，结晶性良好；样品尺寸太小，厚度太薄，可以上机，无法保证数据质量。（请提供基底信息，若有常规测试谱图请提供）

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项目介绍

常规XRD采用的是X射线直射样品，由于X射线的穿深较大，对有基底的薄膜样品，薄膜的峰经常被基底的峰掩盖。掠入射采用与样品近似平行的入射角度，使X射线仅照射在样品表面，着重关注薄膜样品的信号，规避基底信号。

样品要求

待测样品表面需光滑且平整，测试区域不要有遮挡。块体要求（在1×1cm到1.8×1.8cm），整体厚度不超过5mm，薄膜层尽量均匀

结果展示

咨询热线

400-005-5990