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掠入射XRD(GIXRD)

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掠入射XRD(GIXRD)

满意度: 99%

仪器型号:

XRD单晶,德国 BRUKER ADVANCE,德国-布鲁克-Bruker D8 Advance,德国-布鲁克D8 ADVANCE,日本-理学-SmartLab 9kW,日本-理学-smartlab 等

预约次数:

883次

服务周期:

平均5.9个工作日

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论文致谢
  • 康荣开

    山东大学

    ACS applied energy materials

    原文链接  Interfacial Coupling FeSe2/MoS2 Heterostructure as a Promising Cathode for Aluminum-Ion Batteries

    影响因子:6.959

    现金奖励:366.00

    申请时间:2023-03-09 15:26:12

预约须知

1.掠入射一般针对薄膜和涂层样品,入射角度选择会显著影响测试结果,请参考文献或与您的专属技术顾问讨论后选择。

2.待测样品表面需光滑且平整,测试区域不要有遮挡。

3.掠入射尺寸同常规块体要求,整体厚度不超过8mm,薄膜层尽量均匀;(请提供基底信息,若有常规测试谱图请提供)

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项目介绍

常规XRD采用的是X射线直射样品,由于X射线的穿深较大,对有基底的薄膜样品,薄膜的峰经常被基底的峰掩盖。掠入射采用与样品近似平行的入射角度,使X射线仅照射在样品表面,着重关注薄膜样品的信号,规避基底信号。

样品要求

待测样品表面需光滑且平整,测试区域不要有遮挡。长宽尺寸建议在20*10mm以内

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