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PPMS-电阻率

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PPMS-电阻率

满意度: 97%

仪器型号:

美国-Quantum Design-PPMS-9,美国-Quantum Design-MPMS3 7T

美国-Quantum Design-PPMS-9,美国-Quantum Design-MPMS3 7T

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电阻率测试

已下单4064| 满意度99%

平均周期6.0个工作日

电阻率测试

    材料的导电性是材料的一种重要性质,电阻率是材料常规参数之一,根据材料电阻的大小,设备一般分为低阻计和高阻计;低阻计一般适用于测试电阻小于10KΩ的材料,如金属、石墨烯、石墨等;高阻计一般测试电阻大于10KΩ的材料,如塑料、橡胶、陶瓷等。   电阻率是电导率的倒数,电导率的国际单位是S/m。在一般的工程沟通中,铜合金的电导率通常表示为%IACS,这是国际退火铜标准的缩写。100%IACS定义为:20°C时,17.241nΩ•m的体积电阻率相对应的导电率,100%IACS电导率为58.2MS/m。

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X射线光电子能谱(XPS)

优惠价 ¥54.00 ¥90.00起

平均周期5.0个工作日

X射线光电子能谱(XPS)

1. X射线光电子能谱(XPS)可测试全谱、精细谱、俄歇谱、价带谱,也可刻蚀后采谱得到深层的信息;2. X射线光电子能谱(XPS)按元素个数收费(需要包含必测元素C,不能测试H、He元素);一个元素默认测一个轨道,若测试多个轨道计为多个元素;一个样品默认一个测试位置,若测试多个位置计为多个位置;3. XPS定量为半定量数据。原子百分含量小于5%的元素可能测不出明显信号;4. 测试默认单色化Al靶(AlKαsource),能量1486.68eV;

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X射线多晶衍射(XRD)

优惠价 ¥24.00 ¥40.00起

平均周期4.5个工作日

X射线多晶衍射(XRD)

当一束单色X射线入射到晶体时,由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成,这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有X射线衍射分析相同数量级,故由不同原子散射的X射线相互干涉,在某些特殊方向上产生强X射线衍射,衍射线在空间分布的方位和强度,与晶体结构密切相关,每种晶体所产生的衍射花样都反映出该晶体内部的原子分配规律。这就是X射线衍射的基本原理。

350/h起

云现场/现场-场发射扫描电镜(SEM)

已下单45926| 满意度100%

平均周期6.5个工作日

云现场/现场-场发射扫描电镜(SEM)

    扫描电子显微镜(SEM)是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段。其利用聚焦很窄的高能电子束来扫描样品,通过光束与物质间的相互作用,来激发各种物理信息,对这些信息收集、放大、再成像以达到对物质微观形貌表征的目的。此外,扫描电子显微镜和其他分析仪器相结合,可以做到观察微观形貌的同时进行物质微区成分分析。

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电学模块

1.范德堡法:可测温度范围2-1000K,块体/薄膜尺寸要求:长3-10mm,宽3-10mm(最大不超过10*10mm),0.1mm<厚度<3mm,液体金属也可以测(磁性要强),2-5mL,要求无毒且不易挥发默认升温速率5K/min,扫描步长3K;如扫描步长等有特殊要求,请备注并联系对接技术顾问确认报价;

四引线法:2-400K.必须要选做电极,需要议价,尺寸要求:长:3 mm- 10 mm;宽: 2mm- 5 mm;高:1 mm-   2  mm;

2.电阻率测试的相关说明:

(1) 要求样品与电极形成欧姆接触, 详见"电极制备和欧姆接触的相关说明". 
(2) 要求样品厚度均匀, 表面光滑, 粗糙度最好控制在微米级别, 否则测试结果大概率不准确. 客户需要提供样品导电层的厚度, 以用于计算电阻率,容易氧化的样品注意氧化层的影响.
(3) 如果是薄膜样品, 要求基底不导电, 且需要知道样品导电层的准确厚度, 以用于计算电阻率. 通常要求只有一层导电薄膜, 因为如果有多层导电薄膜, 那么测试数据是多层导电薄膜共同贡献的结果, 无法得到其中某一层的电阻信息.
(4) 如果是粉末样品, 需要压片后才能测试, 压片后的样品需要满足尺寸要求,送样质量需根据样品的密度自行确定, 压片需要加收200元/样品. 
(5) 设备直接输出的是电阻, 电阻率需要通过样品尺寸等信息进行计算. 准确测试电阻需要用四线法, 否则无法排除接触电阻和电表内阻等因素的影响.
(6) 如果客户将样品做成了HALL BAR器件, 那么用四线法测试时电流可以均匀通过样品, 电阻率可以用常规公式进行计算, 即电阻率rho=电阻R*宽度w*厚度t/长度l, 其中长度l指平行于电流方向的样品尺寸(电压正负极之间的距离).
(7) 如果客户没有将样品做成HALL BAR器件, 那么需要用范德堡法进行测试. 这是因为没有加工器件的样品, 电流无法在样品平面内均匀通过, 反而是四散分布的.  此时, 电阻率的计算公式为: 电阻率rho=(pi/ln2)*电阻R*厚度t=4.532*R*t (备注: 范德堡法也是四端法的一种)。


3.电极制备和欧姆接触的相关说明:
(1) 可靠电学测试的前提条件是样品与电极形成欧姆接触, 形成欧姆接触通常需要样品与电极材料的功函数互相匹配. 若没有形成欧姆接触, 测试结果将由接触电阻和样品电阻共同贡献. 接触电阻由电极与样品形成的肖脱基势垒高度决定,势垒越高接触电阻越大, 且接触电阻随势垒高度通常是指数变化的.
(2) 是否形成了欧姆接触通常是用IV曲线进行判断的, IV和霍尔是不同的项目. 如果没有要求测试IV曲线, 只要求测"RT, 磁电阻或者霍尔", 那么我们不负责确认欧姆接触, 直接进行"RT, 磁电阻或者霍尔"测试.
(3) 我们对样品性质不了解, 因此需要自己查阅文献或咨询业内相关人士, 从而决定用何种电极材料接触样品, 以及是否要做工艺 (如光刻/电子束蒸发/合金化等).
(4) 默认用铜探针作为电极接触样品, 无需收电极材料的费用.
(5) 还可以用铟或银胶作为电极材料接触样品, 然后用铜探针接触铟或银胶(不是镀电极, 是用铟或银胶和样品接触而已, 这种情况需要加收电极材料费用200元/样品. 对于特殊的样品, 会根据经验调试, 以获得最好的电学接触效果.
(6) 若要用其他材料做电极, 或要焊电极, 则需要客户自己做好电极后再寄给我们.
(7) 如果是需要蒸镀电极, 通常涉及光刻, 热蒸发/磁控溅射/电子束蒸发, 光刻胶剥离, 清洗样品, 电极退火合金化等工艺过程. 上述工艺目前做不了.


 如有其他疑问,请联系前期对接的技术顾问;



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项目介绍

1,利用PPMS可以测试样品的电阻、电阻率和磁阻,可测温度范围2-1000K;

2,  可靠电学测试的前提条件是样品与电极形成欧姆接触, 形成欧姆接触通常需要样品与电极材料的功函数互相匹配,是否形成了良好的欧姆接触, 可以通过测试IV曲线进行判断;

3,  如果不镀电极,测试一律使用实验室默认电极接触样品, 无需收电极材料的费用;

4,若做电极,实验室可以提供银胶和铟作为电极接触样品,需额外收费;

5,若要用其他材料做电极, 或要焊电极, 则需要客户自己做好电极后再寄给我们。

6,电阻测试范围: 5E-9到5E9 (Ohm). 结合锁相放大技术, 最低电阻大概能到1E-10 (Ohm),PPMS的电阻精度大概是1E-6欧姆

样品要求

(1)请提供样品准确厚度,样品表面平整光滑,无孔洞或缺陷, 否则影响测试结果准确;对样品的形状没有严格要求, 可以是矩形/圆形或不规则形状;若为涂层薄膜样品,基底不能导电,请务必提供薄膜(导电层)厚度信息,块体/薄膜尺寸要求:长3-10mm,宽3-10mm(最大不超过10*10mm),0.1mm<厚度<3mm

(2)液体金属也可以测(磁性要强),2-5mL,要求无毒且不易挥发

(3)粉末要求压成片后体积要满足尺寸要求, 质量和样品的密度有关系,需收额外的压片费;

(4)如果要求用四引线法:必须要选做电极,需要议价,尺寸要求:长:3 mm- 10 mm;宽: 2mm- 5 mm;高:1 mm-   2  mm,该方法可测温度范围是3-400K.



结果展示

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常见问题
PPMS电阻率测试中,用的封装盒,是全封闭的还是敞开式的?测试过程中有没有保护气(像液氦这种)?

不是封装盒, 是样品腔. PPMS默认用氦气清洗腔体 (程序默认是清洗三遍), 然后抽真空.

PPMS测高温电阻率时,保护气体是什么气体?

将样品放入样品腔后,会先用氦气清洗三遍腔体,然后抽真空。密封性良好,不用担心高温氧化样品。

PPMS测电阻的话,仪器通多大的电流?

默认初始尝试电流1uA, 较小的电流可以避免烧毁样品. 具体电流会根据样品电阻大小进行调节, 以保证信噪比.

PPMS测试电阻用的什么方法?

目前有范德堡法和四引线法两种。范德堡法对样品形状没有要求,四引线法样品必须是长条样。

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