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XRD织构测试

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XRD织构测试

满意度: 98%

仪器型号:

德国-Bruker-D8 ADVANCE

德国-Bruker-D8 ADVANCE

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X射线多晶衍射(XRD)

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X射线多晶衍射(XRD)

当一束单色X射线入射到晶体时,由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成,这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有X射线衍射分析相同数量级,故由不同原子散射的X射线相互干涉,在某些特殊方向上产生强X射线衍射,衍射线在空间分布的方位和强度,与晶体结构密切相关,每种晶体所产生的衍射花样都反映出该晶体内部的原子分配规律。这就是X射线衍射的基本原理。

X射线单晶衍射(SC-XRD)

已下单4462| 满意度100%

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X射线单晶衍射(SC-XRD)

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X射线小角/广角散射(SAXS/WAXS)

小角X射线散射:在散射角2θ接近0°时,对样品的X射线散射强度进行测量,以获取纳米到微米量级上的分子结构信息。广角X射线散射:测量散射角2θ大于5°。

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X射线多晶衍射-钴靶(XRD)

XRD的光源来自于靶材的特征X射线,对于含有较多Fe,Ni,Mn,Cr元素的样品,为避免Cu靶材产生的特征X射线激发样品的荧光辐射,使图样清晰。建议使用Co靶测试。

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论文致谢
  • 张**

    国防科技大学

    ACS Applied Nano Materials

    原文链接  Self-catalyzed Gelling Synthesis of Aerogels with Inorganic and Organic Nanocomponents for Thermal Insulation and CO2 Capture

    影响因子:6.14

    现金奖励:366.00

    申请时间:2023-02-10 00:55:44

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1. 样品要求:块体样品长宽处于5-25mm,高不超过5mm;

2. 特别注意:立方测试需要3个晶面才可分析出全套数据,密排六方需要4个晶面才可分析出全套数据;需要注明具体物相及其晶面位置;

3. 需提前注明轧制RD方向;

4. 如有其他疑问,请联系前期对接的技术顾问;


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项目介绍

一般而言,多晶体各晶粒在空间的取向是任意的,各晶粒之间没有一定的位向关系。而经过冷加工,或者其他一些冶金,热处理过程后(如铸造、电镀、气相沉积、热加工、退火等等),多晶体的取向分布状态可以明显偏离随机分布状态,呈现一定的规则性。这样一种位向分布就称为织构,或者择优取向。此项目通过X射线与晶体的相互作用,确定样品的织构。

样品要求

此测试主要适用于薄膜样品和块体样品。样品的长宽高建议在30*20*10mm以内

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