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铁电分析

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铁电性能测试

已下单1472| 满意度100%

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铁电性能测试

铁电性能测试可以得到电滞回线、电致应变、漏电流测试以及直流/交流击穿电压。

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X射线光电子能谱(XPS)

优惠价 ¥54.00 ¥90.00起

平均周期5.0个工作日

X射线光电子能谱(XPS)

1. X射线光电子能谱(XPS)可测试全谱、精细谱、俄歇谱、价带谱,也可刻蚀后采谱得到深层的信息;2. X射线光电子能谱(XPS)按元素个数收费(需要包含必测元素C,不能测试H、He元素);一个元素默认测一个轨道,若测试多个轨道计为多个元素;一个样品默认一个测试位置,若测试多个位置计为多个位置;3. XPS定量为半定量数据。原子百分含量小于5%的元素可能测不出明显信号;4. 测试默认单色化Al靶(AlKαsource),能量1486.68eV;

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X射线多晶衍射(XRD)

优惠价 ¥24.00 ¥40.00起

平均周期4.5个工作日

X射线多晶衍射(XRD)

当一束单色X射线入射到晶体时,由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成,这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有X射线衍射分析相同数量级,故由不同原子散射的X射线相互干涉,在某些特殊方向上产生强X射线衍射,衍射线在空间分布的方位和强度,与晶体结构密切相关,每种晶体所产生的衍射花样都反映出该晶体内部的原子分配规律。这就是X射线衍射的基本原理。

350/h起

云现场/现场-场发射扫描电镜(SEM)

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平均周期6.5个工作日

云现场/现场-场发射扫描电镜(SEM)

    扫描电子显微镜(SEM)是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段。其利用聚焦很窄的高能电子束来扫描样品,通过光束与物质间的相互作用,来激发各种物理信息,对这些信息收集、放大、再成像以达到对物质微观形貌表征的目的。此外,扫描电子显微镜和其他分析仪器相结合,可以做到观察微观形貌的同时进行物质微区成分分析。

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论文致谢
  • 吴**

    常州大学

    Inorganic Chemistry

    原文链接  Efficient Charge Separation via MoSe2 Nanosheets with Tunable 1T Phase Contents: Piezoreduction of Cr (VI) to Cr (III) and Piezodegradation of RhB

    影响因子:5.436

    现金奖励:266.00

    申请时间:2022-11-15 20:25:14

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1. 样品要求:块体样品长宽或直径10-20mm左右,最佳尺寸20mm,厚度小于 3mm;

2. 特别注意:样品上下表面需要有电极,组成上中下结构,且必须明确电极的面积;性能不好或者漏电流大、绝缘性不好的,不建议测铁电;测前建议自己先测下I-V曲线确定样品绝缘性,BFO本身漏电,不好做,膜本身不好制备;

3. 采用镀电极方式测试;电极类型及镀电极方式:针对金属、陶瓷等材料,采用镀金或镀银;对于高分子薄膜等材料,采用刷银浆或溅射银电极;

4. 如有其他疑问,请联系前期对接的技术顾问;


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常见问题
铁电回线的意义?

1. 铁电回线是判断铁电体的依据,铁电材料在外加交变电场作用下形成电滞回线,不同材料和不同工艺条件对电滞回线的形状都有很大的影响;

2. 由于有剩余极化强度,因而铁电体可用来作信息储存、图像显示;

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