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【每周e课】干货学习——AFM小知识

Q1:AFM制样条件是什么?

A:(1)将待测样品根据需要用水或者酒精分散,待测样品被分散后整个溶液要是透明的,目测与水或者酒精一样;

(2)仍是根据需要,选择是否进行超声分散以及分散的时间;

(3)将分散好的溶液的上层清液取出来滴在事先准备的硅片基底上,烘干或者晾干即可。

Q2:AFM测试模式有哪些?

A:表面形貌测试:可得到样品表面形貌(2D、3D)以及粗糙度和高度分布图;

导电性能测试(C-AFM):同时得到形貌和电流分布图;也可以进行选区I-V曲线测试;

表面电势测试(AFM-SKPFM):表面电荷的半定性表征,能直接测量探针和样品之间的电势差;

磁学性能测试(AFM-MFM):微区磁畴的分布表征;

纳米力学测试(AFM-QNM):力学图谱测量,可通过拟合力学曲线得到样品的杨氏模量,得到微区的杨氏模量分布,适用于较软样品高级纳米力学成像模式,可对有机物,高分子以及金属材料进行扫描,同时得到形貌和模量分布;

压电力测量(AFM-PFM):薄膜,陶瓷,晶体,纤维材料的表面铁电畴表征,极化反转和蝴蝶曲线测试,畴操纵。

Q3:AFM拍摄范围一般时多大?

A:AFM与SEM、TEM或者金相测试不同,测试时不做倍数要求,AFM一般要告知扫描范围,常规是10*10nm到10*10μm;尺寸过小,分辨率可能达不到,尺寸过大,会增加扫描时间。


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