原子力显微镜(AFM)测试在石墨烯中的应用
2022-02-14 16:18:48 0 3994
单层石墨烯的厚度为0.335 nm,在垂直方向上有约1nm的起伏,且不同工艺制备的石墨烯在形貌上差异较大,层数和结构也有所不同,但无论通过哪种方法得到的最终产物都或多或少混有多层石墨烯片,这会对单层石墨烯的识别产生干扰,如何有效地鉴定石墨烯的层数和结构是获得高质量石墨烯的关键步骤之一。
石墨烯的表征主要分为图像类和图谱类图像类以光学显微镜透射电镜TEM扫描电子显微镜、SEM和原子力显微分析AFM为主而图谱类则以拉曼光谱Raman红外光谱IRX射线光电子能谱、XPS和紫外光谱UV为代表其中TEM、SEM、Raman、AFM和光学显微镜一般用来判断石墨烯的层数而IRX、XPS和UV则可对石墨烯的结构进行表征,用来监控石墨烯的合成过程。本文主要为大家揭秘石墨烯的AFM测试。
AFM表征
图3 石墨烯的结构图和其AFM图像[1,2]
AFM表征及图像分析举例
AFM表征石墨烯的优缺点
[8] Williams G, Seger B and Kamat P V. TiO2-graphene nanocomposites.UV -assisted photocatalytic reduction of graphene oxide [J]. ACS Nano, 2008, 2: 1487-1491.
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