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透射电镜(TEM)常见问题(一)



Q1:TEM的原理及联用项目有哪些?

透射电镜即透射电子显微镜(英文简称TEM)是使用最为广泛的一类电镜。TEM可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2um的细微结构,这些结构称为亚显微结构或超微结构。要想看清这些结构,就必须选择波长更短的光源,以提高显微镜的分辨率。

TEM可检测的项目有:

可测试TEM、磁性TEM+HRTEM、SAED、EDS点扫/微区、EELS点或线或面扫、磁性STEM mapping、3D-TEM、STEM(HAADF)

做TEM测试对样品有以下几点要求:

(1)粉末、液体样品均可,固体样品太大了的需要离子减薄、双喷、FIB、切片制样。

⑵样品必须很薄,使电子束能够穿透,一般厚度为100~200nm左右;

⑶样品需置于直径为2~3mm的铜制载网上,网上附有支持膜;

(4)样品应有足够的强度和稳定性,在电子线照射下不至于损坏或发生变化;

(5)样品及其周围应非常清洁,以免污染。


Q2:透射电镜观察细胞的什么结构?

透射电镜(TEM)可以用来观察细胞内部的细胞器等超微结构。

Q3:TEM像衬度的特征?

电镜衬度分四类:质厚衬度,衍射衬度,相位衬度,Z衬度。TEM是利用相位衬度。
透射电镜TEM衬度的形成,物镜后焦面是起重要作用的部位。
电子经样品散射后,相对光轴以同一角度进入物镜的电子在物镜后焦面上聚焦在一个点上。散射角越大,聚焦点离轴越远,如果样品是一个晶体,在后焦面上出现的是一幅衍射图样。
与短晶面间距(或者说"高空间频率")对应的衍射束被聚焦在离轴远处。在后焦面上设有一个光阑。它截取那一部分电子不但对衬度,而且对分辨率有直接的影响。如果光阑太小,把需要的高空间频率部分截去,那么和细微结构对应的高分辨信息就丢失了(见阿贝成像原理)。

Q4:材料中有两种金属,粒径差不多,TEM可以区分吗?

透射电子显微镜(Transmission electron microscope,缩写TEM)只能观察影像,观察组织形态,可以形成明暗不同的影像。
当然也可以得到电子衍射花样,但是电子衍射一般只用于测试二维晶体结构,无法简单作三维体晶格判定,更无法单独作元素判定。
如果两种金属,虽然粒径差不多,但是晶体结构相同的话无法区分,如铜和镍两种金属均是面心立方(fcc)结构,就难以区分,当然,如果是不同的晶体结构,TEM还是可以区分的。

Q5:TEM样品的厚度?

TEM的样品厚度最好小于100nm,太厚了电子束不易透过,分析效果不好。

而透射电镜(TEM)是以电子束透过样品经过聚焦与放大后所成的物像,因此,透射电镜(TEM)观察的是样品的内部精细结构,如晶体结构,形态等,而扫描电镜(SEM)则提供了样品表面及其组成的信息。TEM的分辨率比SEM要高一些。

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