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首页 测试百科 透射电镜(TEM)常见问题(二)

透射电镜(TEM)常见问题(二)

透射电镜 透射电子显微镜 TEM 衬度 衬度类型 样品要求




Q1:为什么透射电镜没有颜色?


颜色是由光的颜色决定的,也就是电磁波的频率决定的,

而电子显微镜的光不是自然光,而是电子束光源,所以显示不出来五彩斑斓的色彩。

透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope,简称TEM),可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2um的细微结构,这些结构称为亚显微结构或超微结构。要想看清这些结构,就必须选择波长更短的光源,以提高显微镜的分辨率。1932年Ruska发明了以电子束为光源的透射电子显微镜,电子束的波长要比可见光和紫外光短得多,并且电子束的波长与发射电子束的电压平方根成反比,也就是说电压越高波长越短。目前TEM的分辨力可达0.2nm

而电镜获得的图像是反映电子多少(即亮度)的“灰度图”,其中没有色彩信息。



Q2:TEM铜网和微栅区别?


TEM铜网平常做透射电镜所用的铜网,即为承载样品的载网。载网若是铜材质,就称铜网,如果是镍、钼、金、尼龙,就相应的称镍网、钼网、金网、尼龙网。铜网也称“裸网”。主要应用在生物制样中,可配合切片机,在水槽中用“裸网”捞取样品。再进行喷碳处理,然后进入电镜观察。
微栅支持膜微栅是支持膜的一个品种,它是在制作支持膜时,特意在膜上制作的微孔,所以也叫“微栅支持膜”,它也是经过喷碳的支持膜,一般膜厚度为15-30nm。它主要是为了能够使样品搭载在支持膜微孔的边缘,以便使样品“无膜”观察。无膜的目的主要是为了提高图像衬度。
所以,观察管状、棒状、纳米团聚物等,常用“微栅”支持膜,效果很好。特别是观察这些样品的高分辨像时,更是最佳的选择。
测试中捞样品常用的有碳支持膜和小孔微栅,小孔微栅上其实也有一层超薄的碳膜。拍高分辨的,试样的厚度最好要控制在20nm以下,所以一般直径小于20nm的粉体才直接捞,颗粒再大则是包埋后离子减薄。
超薄碳膜也是支持膜的一种。它是在微栅的基础上,叠加了一层很薄的碳膜,一般3-5nm。这层超薄碳膜的目的,是用薄碳膜把微孔挡住。既然微栅观察效果最好,为什么还要把孔挡住呢?这主要是针对那些分散性很好的纳米材料,如:10nm以下的样品,分散性极好的样品。


Q3:为什么磁性粒子一般不允许做透射电镜?


因为做磁性材料把样品滴在专用支持膜上。一般磁性都是学校内部做的,不给外校做。磁性材料可能被吸到镜头上影响TEM分辨率,会污染电镜。


Q4:麻烦大家给看一下这两个氧化铝的TEM


XRD小角度有一个峰,峰高都在1万多,氮气吸附为IV型,平均孔径也都在8nm左右。对TEM不太懂,也看不出来哪是孔,请问能看出孔吗?好像没什么有序性。
明的是孔道,暗的是孔壁,类似于sba-15这样的有序介孔结构

②你的TEM图还算是可以了,AL2O3做成这样已经不错,可能是你找的位置不是太理想,但第二幅图看到稍有序的孔结构更清楚一些,且孔径更大些这种图主要是看黑白逞度的不同,可以看到有序排列的结构建议你在advanced materials上找一个相关的文献看看,有很多,他们对图的描述。

本文由e测试整理,未经允许,禁止转载。


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