透射电镜(TEM)常见问题(三)
2022-05-10 16:59:50 0 527
(a)薄膜样品的组织结构必须和大块样品相同,在制备过程中,这些组织结构不发生变化。尤其是在机械研磨过程中,力应该小一些,并需要用抛光或离子减薄消除表面硬化层。
(b)薄膜样品应有一定强度和刚度,在夹持和操作过程中,在一定的机械力作用下不会引起变形或损坏。
(c)在样品制备过程中不允许表面产生氧化和腐蚀,否则会使样品的透明度下降,引入干扰信息。
(a)对含有非晶结构的膜拍摄高分辨像,应注意图像中晶区和非晶区特别是界面处的细节;含有纳米晶和非晶区的纳米晶试样,拍摄高分辨像会更容易一些。当晶区和非晶区边界细节模糊时,说明加速电压和透射电流稳定性或者工作环境稳定性有问题。此外,非晶膜的傅里叶变换花样和衍射花样的质量,可以用来判断不稳定的波数范围。
(b)高分辨像的质量和拍摄时的聚焦漂移与试样漂移关系极大。聚焦漂移是指聚焦随着时间推移会向着欠焦或者过焦的一侧移动的现象。
(c)试样漂移一般出现在试样刚刚插入试样台的瞬间,以及刚加液氮也会产生影响,因此要测定上述两种操作之后使试样达到稳定的时间。这个时间有时甚至长达2~3min。
(d)确认物镜球差系数。一般可以依据厂家提供的数据,正确操作,选定最佳聚焦量,从而达到最佳的分辨率水平。
使用透射电子显微镜可以用于观察样品的精细结构,甚至可以用于观察仅仅一列原子的结构,比光学显微镜所能够观察到的最小的结构小数万倍。TEM在中和物理学和生物学相关的许多科学领域都是重要的分析方法,如癌症研究、病毒学、材料科学、以及纳米技术、半导体研究等等。
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